一種橢偏儀測(cè)量裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202120013648.8 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN216117305U 公開(公告)日 2022-03-22
申請(qǐng)公布號(hào) CN216117305U 申請(qǐng)公布日 2022-03-22
分類號(hào) G01N21/21(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G01N21/15(2006.01)I;G01B11/06(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 黃爽;黎浩;王漢華;許海明 申請(qǐng)(專利權(quán))人 湖北光安倫芯片有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京匯澤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 代嬋
地址 436000湖北省鄂州市葛店開發(fā)區(qū)高新三路光谷聯(lián)合科技城第C9幢5單元
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型涉及一種橢偏儀測(cè)量裝置,包括平面二維機(jī)械移動(dòng)平臺(tái)以及用于固定樣品的樣品臺(tái),所述平面二維機(jī)械移動(dòng)平臺(tái)固定在橢偏儀的底座上,所述樣品臺(tái)通過(guò)支座支撐在平面二維機(jī)械移動(dòng)平臺(tái)上,通過(guò)平面二維機(jī)械移動(dòng)平臺(tái)帶動(dòng)支座上的樣品臺(tái)沿平面移動(dòng)。本實(shí)用新型采用平面二維機(jī)械移動(dòng)平臺(tái)代替鑷子移動(dòng)晶片,減少測(cè)量過(guò)程中人為移動(dòng)晶片的次數(shù),減少晶片表面破損與污染,提高良率,且其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,在生產(chǎn)制造過(guò)程中便于操作。