基于關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)選擇和蟻群優(yōu)化算法的大規(guī)模集成電路小時(shí)延故障測(cè)試通路選擇方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201410642109.5 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN104331569B 公開（公告）日 2017-05-24
申請(qǐng)公布號(hào) CN104331569B 申請(qǐng)公布日 2017-05-24
分類號(hào) G06F17/50(2006.01)I;G06N3/00(2006.01)I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 俞洋;彭宇;陳修遠(yuǎn);彭睿 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 哈爾濱工業(yè)大學(xué)高新技術(shù)開發(fā)總公司
代理機(jī)構(gòu) 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 代理人 哈爾濱工業(yè)大學(xué);哈爾濱工業(yè)大學(xué)高新技術(shù)開發(fā)總公司
地址 150001 黑龍江省哈爾濱市南崗區(qū)西大直街92號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 基于關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)選擇和蟻群優(yōu)化算法的大規(guī)模集成電路小時(shí)延故障測(cè)試通路選擇方法，涉及一種大規(guī)模集成電路的小時(shí)延故障測(cè)試通路選擇方法。它是為了解決現(xiàn)有基于貪婪算法對(duì)小時(shí)延缺陷的測(cè)試通路選擇方法時(shí)間復(fù)雜度和空間復(fù)雜度過高的問題。本發(fā)明所述的基于關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)選擇和蟻群優(yōu)化算法的大規(guī)模集成電路小時(shí)延故障測(cè)試通路選擇方法，通過使用關(guān)鍵節(jié)點(diǎn)選擇來優(yōu)化蟻群優(yōu)化算法的搜索時(shí)間，進(jìn)而快速選擇出小時(shí)延缺陷測(cè)試通路，使搜索時(shí)間減少為原時(shí)間的20％至25％。不僅降低了時(shí)間復(fù)雜度，也降低了空間復(fù)雜度。適用于在大規(guī)模集成電路小時(shí)延故障測(cè)試通路的選擇。