一種樣本架轉(zhuǎn)移裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201710124451.X 申請日 -
公開（公告）號 CN108535501B 公開（公告）日 2021-08-06
申請公布號 CN108535501B 申請公布日 2021-08-06
分類號 G01N35/04（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 丁建文;危加勝 申請（專利權(quán)）人 愛威科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 羅滿
地址 410013湖南省長沙市高新開發(fā)區(qū)文軒路27號麓谷鈺園B6棟
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種樣本架轉(zhuǎn)移裝置，用于將盛放樣本容器的樣本架從第一檢測設(shè)備轉(zhuǎn)移至第二檢測設(shè)備，包括，轉(zhuǎn)移板、上板機(jī)構(gòu)、第一推送機(jī)構(gòu)、轉(zhuǎn)動機(jī)構(gòu)、第二推送機(jī)構(gòu)以及下板機(jī)構(gòu)，上板機(jī)構(gòu)，用于將裝有第一檢測設(shè)備檢測后的樣本容器的樣本架推送至轉(zhuǎn)移板上；樣本架轉(zhuǎn)動機(jī)構(gòu)，用于將上板機(jī)構(gòu)所推送的樣本架在轉(zhuǎn)移板上進(jìn)行轉(zhuǎn)向移動；第二推送機(jī)構(gòu)，用于推動轉(zhuǎn)向移動后的樣本架在轉(zhuǎn)移板上移動，并推送至下板機(jī)構(gòu)；下板機(jī)構(gòu)，用于將第二推送機(jī)構(gòu)推送的樣本架推離轉(zhuǎn)移板，并推向第二檢測設(shè)備。本申請?zhí)峁┑臉颖炯苻D(zhuǎn)移裝置，能夠使得第一檢測設(shè)備與第二檢測設(shè)備檢測速度相匹配，實現(xiàn)檢測過程連續(xù)進(jìn)行。