一種封裝框架結(jié)構(gòu)、制作方法和芯片封裝結(jié)構(gòu)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110707526.3 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN113192921A | 公開(kāi)(公告)日 | 2021-07-30 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN113192921A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-07-30 |
分類號(hào) | H01L23/495;H01L21/48 | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 楊國(guó)江 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 江蘇長(zhǎng)晶浦聯(lián)功率半導(dǎo)體有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 江蘇瑞途律師事務(wù)所 | 代理人 | 金龍 |
地址 | 211800 江蘇省南京市浦口區(qū)浦口經(jīng)濟(jì)開(kāi)發(fā)區(qū)雙峰路69號(hào)C-16 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種封裝框架結(jié)構(gòu)、制作方法和芯片封裝結(jié)構(gòu),屬于半導(dǎo)體封裝領(lǐng)域。針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中存在的框架背面貼耐高溫膜,此高溫膜成本高,經(jīng)高溫加熱后發(fā)軟,球焊打線作業(yè)性差,包封易產(chǎn)生溢料沾污成品,降低封裝良率的問(wèn)題,本發(fā)明提供一種封裝框架結(jié)構(gòu)、制作方法和芯片封裝結(jié)構(gòu),包括基板正面設(shè)置有油墨層,油墨層覆蓋在正面金屬區(qū)域表面以及正面引腳側(cè)面,正面引腳凸出于油墨層;基板背面設(shè)置有油墨層,油墨層覆蓋在背面金屬區(qū)域表面以及背面引腳側(cè)面,背面引腳凸出于油墨層。它可以規(guī)避原有框架高溫膜的使用,降低了框架的成本,其次提高了球焊的作業(yè)性,規(guī)避了包封溢料導(dǎo)致的產(chǎn)品良率降低。 |
