一種深孔內(nèi)部缺陷檢測設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201921787259.X 申請日 -
公開（公告）號 CN210923518U 公開（公告）日 2020-07-03
申請公布號 CN210923518U 申請公布日 2020-07-03
分類號 G01N21/954;G01N21/01 分類 -
發(fā)明人 周志強(qiáng) 申請（專利權(quán)）人 浙江華煒新材料有限公司
代理機(jī)構(gòu) 浙江千克知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 裴金華
地址 313000 浙江省湖州市長興縣煤山鎮(zhèn)南太湖青年科技創(chuàng)業(yè)園
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型涉及深孔檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種深孔內(nèi)部缺陷檢測設(shè)備。其包括主體，設(shè)置于主體一端的、透明的、用于插入深孔的檢測頭，以及設(shè)置于主體另一端的連接環(huán)，還包括檢測鏡頭，所述檢測鏡頭包括設(shè)置于所述主體、用于對深孔內(nèi)部情況成像的檢測鏡和設(shè)置于所述連接環(huán)、用于觀測的觀測鏡。本實(shí)用新型能夠通過光學(xué)原理將深孔內(nèi)部情況反映出來，從而達(dá)到檢測目的，結(jié)構(gòu)簡單、操作簡便。