一種基于卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的TFT-LCD模組白印檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910005055.4 申請日 -
公開（公告）號 CN109859169A 公開（公告）日 2019-06-07
申請公布號 CN109859169A 申請公布日 2019-06-07
分類號 G06T7/00（2017.01）I; G06K9/32（2006.01）I; G06N3/04（2006.01）I; G02F1/13（2006.01）I; G09G3/00（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 孔令峰; 胡宗亮; 潘科; 詹慧妹; 謝濤 申請（專利權(quán)）人 重慶電子信息中小企業(yè)公共服務(wù)有限公司
代理機構(gòu) 北京同恒源知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 重慶信息通信研究院; 重慶電子信息中小企業(yè)公共服務(wù)有限公司
地址 401336 重慶市南岸區(qū)茶園新區(qū)玉馬路8號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種基于卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的TFT?LCD模組白印檢測方法，屬于工業(yè)缺陷檢測領(lǐng)域。該方法包括圖像預(yù)處理和缺陷檢測；圖像預(yù)處理為：通過相機采集待檢測樣本；通過仿射變換將待檢測的整塊模組區(qū)域校正為矩形；由于模組的光學(xué)干涉效應(yīng)，相機拍攝的待檢測圖存在有規(guī)則的摩爾紋；為提高檢測的正確率，去除摩爾紋；為節(jié)約檢測的時間，縮放相機采集的圖像以節(jié)約檢測時間；縮放后的尺寸滿足檢測網(wǎng)絡(luò)的需要。相較于其它級聯(lián)式檢測方法，該方法檢測過程一步到位，可以有效降低閾值的數(shù)量，進而降低了培訓(xùn)成本與維護成本。單單以算法而言，神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法的通用性本身就高于非神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的算法。