紅外圖像的非均勻校正方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910132612.9 申請日 -
公開（公告）號 CN109903245A 公開（公告）日 2019-06-18
申請公布號 CN109903245A 申請公布日 2019-06-18
分類號 G06T5/00（2006.01）I 分類 計算；推算；計數;
發(fā)明人 王斯建; 侯潔; 馮哲 申請（專利權）人 西安天盈光電科技有限公司
代理機構 北京元合聯合知識產權代理事務所（特殊普通合伙） 代理人 西安天盈光電科技有限公司
地址 710003 陜西省西安市經濟技術開發(fā)區(qū)鳳城七路南側鳳新路西側三豐中心思想5號樓裙樓2層201室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種紅外圖像的非均勻校正方法，該方法包括：獲取環(huán)境信息及原始紅外圖像；根據環(huán)境信息及原始紅外圖像確定紅外圖像的校正參數；根據紅外圖像的校正參數對原始紅外圖像進行非均勻校正，獲得校正紅外圖像。該方法的實現使得紅外焦平面探測器/機芯可以在不依賴溫度調節(jié)裝置、不提升探測器硬件水平的情況下適用于較寬的工作溫度范圍，具備較強的溫度魯棒性，因而大幅度降低了紅外焦平面探測器的設計成本；最重要的是，該方法減少了紅外焦平面探測器的整體功耗，為提升總體系統(tǒng)性能奠定基礎。同時，該方法的適用范圍較廣，可以適用于近紅外、短波紅外、可見?短波紅外、中波和長波紅外焦平面探測器的校正領域以及反射成像領域。