一種相位測(cè)量偏折術(shù)的標(biāo)定優(yōu)化方法、裝置及計(jì)算機(jī)設(shè)備

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010935166.8 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN112082512A 公開(kāi)(公告)日 2020-12-15
申請(qǐng)公布號(hào) CN112082512A 申請(qǐng)公布日 2020-12-15
分類號(hào) G01B11/25(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 宋展 申請(qǐng)(專利權(quán))人 深圳廣成創(chuàng)新技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 廣州本諾知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 梁鵬釗
地址 518000廣東省深圳市南山區(qū)桃源街道福光社區(qū)塘嶺路1號(hào)崇文花園4號(hào)辦公樓2409
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實(shí)施例提供了一種相位測(cè)量偏折術(shù)的標(biāo)定優(yōu)化方法、裝置及計(jì)算機(jī)設(shè)備,應(yīng)用于相位測(cè)量偏折術(shù)系統(tǒng),所述相位測(cè)量偏折術(shù)系統(tǒng)包括顯示屏、相機(jī)以及標(biāo)定物或待測(cè)物,所述顯示屏、相機(jī)以及標(biāo)定物或待測(cè)物在空間上形成預(yù)設(shè)角度,包括:獲取標(biāo)定內(nèi)參數(shù)及標(biāo)定外參數(shù);建立所述標(biāo)定物的一個(gè)或多個(gè)誤差函數(shù);通過(guò)所述一個(gè)或多個(gè)誤差函數(shù)對(duì)所述標(biāo)定內(nèi)參數(shù)及標(biāo)定外參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化,得到優(yōu)化后的標(biāo)定內(nèi)參數(shù)及標(biāo)定外參數(shù);通過(guò)簡(jiǎn)單的優(yōu)化參照物,實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)標(biāo)定參數(shù)的精度的顯著提升,得到高精度的標(biāo)定參數(shù),提高PMD系統(tǒng)的測(cè)量精度。??