驗(yàn)證集損失曲線修正方法、裝置、終端設(shè)備及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110545055.0 申請日 -
公開（公告）號 CN113240019A 公開（公告）日 2021-08-10
申請公布號 CN113240019A 申請公布日 2021-08-10
分類號 G06K9/62（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 肖謙;洪坤磊;錢令軍 申請（專利權(quán)）人 深圳市智影醫(yī)療科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 劉永康
地址 518000廣東省深圳市龍華區(qū)龍華街道清湖社區(qū)清湖村寶能科技園9棟1606
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請適用于人工智能技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種驗(yàn)證集損失曲線修正方法、裝置、終端設(shè)備及存儲介質(zhì)。本申請實(shí)施例中獲取當(dāng)前訓(xùn)練過程中的驗(yàn)證損失子集，驗(yàn)證損失子集中包括各個驗(yàn)證集樣本的總損失；將驗(yàn)證損失子集添加至第一集合中，若第一集合中驗(yàn)證損失子集的數(shù)量超過第一預(yù)設(shè)數(shù)量，則將第一集合中的時間最早的驗(yàn)證損失子集刪除；對第一集合中的各個驗(yàn)證損失子集進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)化處理后的各個驗(yàn)證損失子集確定目標(biāo)損失子集，目標(biāo)損失子集中包括各個驗(yàn)證集樣本的目標(biāo)總損失；從目標(biāo)損失子集中選取第二預(yù)設(shè)數(shù)量的驗(yàn)證集樣本，根據(jù)第二預(yù)設(shè)數(shù)量的驗(yàn)證集樣本分別對應(yīng)的總損失的均值繪制損失曲線，從而提高驗(yàn)證集損失曲線的準(zhǔn)確性。