基于緊框標的深度學習的測量方法及測量裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111216627.7 申請日 -
公開（公告）號 CN113920126B 公開（公告）日 2022-07-22
申請公布號 CN113920126B 申請公布日 2022-07-22
分類號 G06T7/10（2017.01）I;G06T7/70（2017.01）I;G06V10/764（2022.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 王娟;夏斌 申請（專利權(quán)）人 深圳硅基智能科技有限公司
代理機構(gòu) 深圳舍穆專利代理事務所（特殊普通合伙） 代理人 -
地址 518000廣東省深圳市新安街道留芳路6號庭威產(chǎn)業(yè)園3#4樓C區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開描述了一種基于緊框標的深度學習的測量方法，包括獲取輸入圖像；將輸入圖像輸入基于目標的緊框標進行訓練的網(wǎng)絡模塊以獲取第一輸出和第二輸出，第一輸出包括輸入圖像中的各個像素點屬于各個類別的概率，第二輸出包括輸入圖像中各個像素點的位置與每個類別的目標的緊框標的偏移，網(wǎng)絡模塊包括用于提取輸入圖像的特征圖的骨干網(wǎng)絡、基于弱監(jiān)督學習的分割網(wǎng)絡、以及基于邊框回歸的回歸網(wǎng)絡，分割網(wǎng)絡將特征圖作為輸入以獲得第一輸出，回歸網(wǎng)絡將特征圖作為輸入以獲得第二輸出，特征圖與輸入圖像的分辨率一致；基于第一輸出和第二輸出對目標進行識別以獲取各個類別的目標的緊框標。由此，能夠識別目標且能夠精確地對目標進行測量。