介質(zhì)介電常數(shù)計(jì)算方法以及介質(zhì)介電常數(shù)計(jì)算裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210205484.8 申請日 -
公開（公告）號 CN114624705A 公開（公告）日 2022-06-14
申請公布號 CN114624705A 申請公布日 2022-06-14
分類號 G01S13/88（2006.01）I;G01S7/28（2006.01）I;G01R27/26（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王瑞剛;蘇彥;李春來;張宗煜;劉晨迪;洪天晟;戴舜;劉書寧;杜維 申請（專利權(quán)）人 中國科學(xué)院國家天文臺
代理機(jī)構(gòu) 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 代理人 -
地址 100012北京市朝陽區(qū)大屯路甲20號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開提供了一種介質(zhì)介電常數(shù)計(jì)算方法以及介質(zhì)介電常數(shù)計(jì)算裝置，該方法包括：獲取多偏移距探地雷達(dá)的至少三個(gè)接收天線分別接收的反射信號，其中，反射信號是根據(jù)雷達(dá)的發(fā)射天線針對反射體發(fā)射的發(fā)射信號生成的；根據(jù)參數(shù)集，構(gòu)建介電常數(shù)計(jì)算模型，其中，參數(shù)集包括：反射體的第一位置參數(shù)、發(fā)射天線的第二位置參數(shù)、接收天線的第三位置參數(shù)、預(yù)設(shè)波速參數(shù)和預(yù)設(shè)時(shí)延參數(shù)；根據(jù)反射信號，確定發(fā)射天線的第一實(shí)測位置、接收天線的第二實(shí)測位置和每個(gè)反射信號的實(shí)測時(shí)延；根據(jù)至少三個(gè)實(shí)測時(shí)延、發(fā)射天線的第一實(shí)測位置、接收天線的第二實(shí)測位置和介電常數(shù)計(jì)算模型，確定介質(zhì)的介電常數(shù)。