介質的損耗角正切的確定方法、裝置、設備及存儲介質

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210134955.0 申請日 -
公開（公告）號 CN114646812A 公開（公告）日 2022-06-21
申請公布號 CN114646812A 申請公布日 2022-06-21
分類號 G01R27/26（2006.01）I;G01S13/88（2006.01）I;G06F17/11（2006.01）I;G06F17/18（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 王瑞剛;蘇彥;李春來;張宗煜;劉晨迪;洪天晟;戴舜;劉書寧;杜維 申請（專利權）人 中國科學院國家天文臺
代理機構 中科專利商標代理有限責任公司 代理人 -
地址 100012北京市朝陽區(qū)大屯路甲20號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開提供了一種介質的損耗角正切的確定方法、裝置、設備及存儲介質。該方法包括基于預設篩選規(guī)則，對從陣列雷達獲取得到的多個雷達數(shù)據(jù)進行篩選，得到多個目標雷達數(shù)據(jù)，其中，雷達數(shù)據(jù)包括對應于不同采樣點的多個第一分數(shù)據(jù)；針對每個采樣點，對與采樣點對應的目標雷達數(shù)據(jù)中的第一分數(shù)據(jù)進行平均平方和處理，得到目標分數(shù)據(jù)；根據(jù)多個目標分數(shù)據(jù)，得到第一目標數(shù)據(jù)；對第一目標數(shù)據(jù)進行校正處理，得到校正后的第一目標數(shù)據(jù)；對校正后的第一目標數(shù)據(jù)進行單位轉換，得到第二目標數(shù)據(jù)；根據(jù)第二目標數(shù)據(jù)的幅度的變化曲線，得到變化曲線的斜率；以及根據(jù)斜率和雷達方程，得到介質的損耗角正切參數(shù)值。