一種用于高頻射頻標(biāo)簽的檢測(cè)裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN200910087890.3 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN101930042A 公開（公告）日 2010-12-29
申請(qǐng)公布號(hào) CN101930042A 申請(qǐng)公布日 2010-12-29
分類號(hào) G01R31/02(2006.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 王健 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京中衡亞仕科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 100083 北京市海淀區(qū)同方科技廣場(chǎng)A座2901
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種用于高頻射頻標(biāo)簽的檢測(cè)裝置，涉及無(wú)線射頻識(shí)別技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明包括由位于頂層的上天線、中間層的振蕩發(fā)射天線和底層的下天線組成的探測(cè)天線。上天線、振蕩發(fā)射天線和下天線均是由金屬線圍成的圓形環(huán)。上天線圓形環(huán)的一端引出線與下天線圓形環(huán)的一端引出線相連接，上天線圓形環(huán)和下天線圓形環(huán)的另一端引出線形成感應(yīng)電壓變化的接收天線。同現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明可以避開具體的芯片協(xié)議完成檢測(cè)，具有檢測(cè)方法簡(jiǎn)單、檢測(cè)準(zhǔn)確率高的特點(diǎn)。