輔助定向組件、X射線定向儀以及晶體加工設(shè)備
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202021413730.1 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN212568551U | 公開（公告）日 | 2021-02-19 |
| 申請公布號 | CN212568551U | 申請公布日 | 2021-02-19 |
| 分類號 | G01N23/20025(2018.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 張曉周;李德斌;陳麗英;馬建 | 申請（專利權(quán)）人 | 成都東駿激光股份有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） | 代理人 | 畢翔宇 |
| 地址 | 611600四川省成都市蒲江縣鶴山鎮(zhèn)工業(yè)開發(fā)區(qū) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請涉及晶體加工、切割技術(shù)領(lǐng)域，尤其是一種輔助定向組件、X射線定向儀以及晶體加工設(shè)備設(shè)置。一種輔助定向組件，放置在X射線定向儀的測試臺上，包括夾持臺；夾持臺上開設(shè)有安放槽，安放槽具有第一側(cè)壁和第二側(cè)壁，第一側(cè)壁與第二側(cè)壁呈第一預(yù)設(shè)角度；安放槽用于放置待測晶體；待測晶體的軸向側(cè)面分別與所述第一側(cè)壁和所述第二側(cè)壁相切。本申請中安放槽的第一側(cè)壁與第二側(cè)壁垂直連接，保證夾持臺的第一側(cè)壁與第二側(cè)壁之間的垂直度，當(dāng)將待測晶體放置在安放槽內(nèi)時，待測晶體的軸向側(cè)面分別與第一側(cè)壁和第二側(cè)壁相切，即能夠保證待測晶體的軸向側(cè)面與安裝槽之間較小垂直度的垂直度偏差，進(jìn)而保證待測晶體軸向晶向偏差無誤。?? |
