輔助定向組件、X射線定向儀以及晶體加工設(shè)備

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202021413730.1 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN212568551U 公開(公告)日 2021-02-19
申請(qǐng)公布號(hào) CN212568551U 申請(qǐng)公布日 2021-02-19
分類號(hào) G01N23/20025(2018.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 張曉周;李德斌;陳麗英;馬建 申請(qǐng)(專利權(quán))人 成都東駿激光股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 代理人 畢翔宇
地址 611600四川省成都市蒲江縣鶴山鎮(zhèn)工業(yè)開發(fā)區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)涉及晶體加工、切割技術(shù)領(lǐng)域,尤其是一種輔助定向組件、X射線定向儀以及晶體加工設(shè)備設(shè)置。一種輔助定向組件,放置在X射線定向儀的測(cè)試臺(tái)上,包括夾持臺(tái);夾持臺(tái)上開設(shè)有安放槽,安放槽具有第一側(cè)壁和第二側(cè)壁,第一側(cè)壁與第二側(cè)壁呈第一預(yù)設(shè)角度;安放槽用于放置待測(cè)晶體;待測(cè)晶體的軸向側(cè)面分別與所述第一側(cè)壁和所述第二側(cè)壁相切。本申請(qǐng)中安放槽的第一側(cè)壁與第二側(cè)壁垂直連接,保證夾持臺(tái)的第一側(cè)壁與第二側(cè)壁之間的垂直度,當(dāng)將待測(cè)晶體放置在安放槽內(nèi)時(shí),待測(cè)晶體的軸向側(cè)面分別與第一側(cè)壁和第二側(cè)壁相切,即能夠保證待測(cè)晶體的軸向側(cè)面與安裝槽之間較小垂直度的垂直度偏差,進(jìn)而保證待測(cè)晶體軸向晶向偏差無(wú)誤。??