一種自動微調(diào)機的測試頭

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201520291180.3 申請日 -
公開（公告）號 CN204649794U 公開（公告）日 2015-09-16
申請公布號 CN204649794U 申請公布日 2015-09-16
分類號 G01R1/073(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 詹超;廖其飛;吳宗澤;池旭明;王臻;林土全 申請（專利權(quán)）人 浙江東晶電子股份有限公司
代理機構(gòu) 金華科源專利事務所有限公司 代理人 胡杰平
地址 321025 浙江省金華市賓虹西路555號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型屬于制造石英晶體元件的設備技術(shù)領(lǐng)域，具體是一種自動微調(diào)機的測試頭，包括固定座，其特征是固定座設有探針，固定座上設置固定套筒，擋片固定在擋片固定桿上，擋片固定桿放置在固定套筒內(nèi)，擋片固定桿與固定套筒之間通過彈簧支撐，擋片上設置有能使探針穿過的通孔，通孔的數(shù)量和位置與探針的數(shù)量和位置相匹配。本實用新型由于采用上述技術(shù)方案，在測試前運用測試頭上自帶的擋板對物料進行固定，然后探針進行接觸測試動作，保證了物料位置的固定性，提高了探針的測試精度；測試完成后，探針先離開物料，擋片后離開物料，解決了探針上升過程中將物料粘起的問題，使微調(diào)機搬送載條更加順暢，提高了微調(diào)測試精度與微調(diào)效率。