一種集成芯片PIN檢測與不良品分類設(shè)備及檢測分類方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202111001882.X 申請日 -
公開（公告）號 CN113857080A 公開（公告）日 2021-12-31
申請公布號 CN113857080A 申請公布日 2021-12-31
分類號 B07C5/344（2006.01）I;B07C5/02（2006.01）I;B07C5/36（2006.01）I 分類 將固體從固體中分離；分選;
發(fā)明人 豆宏春;劉軍;汪洪偉;王強 申請（專利權(quán)）人 四川辰鴻電子有限公司
代理機(jī)構(gòu) 成都聚蓉眾享知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 孟凡娜
地址 615700四川省涼山彝族自治州鹽源縣果場（涼山州綠色家園安康醫(yī)院內(nèi)）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種集成芯片PIN檢測與不良品分類設(shè)備，包括傾斜設(shè)置的機(jī)架，所述機(jī)架上表面從位置較高的一端到位置較低的一端依次設(shè)有相互連通的下料組件、耐壓測試組件、電性測試組件和循環(huán)組件，所述耐壓測試組件側(cè)面設(shè)有與其連通的耐壓不良品收料組件，所述循環(huán)組件位置較低的一端設(shè)有與其內(nèi)部連通的分料組件，所述分料組件包括良品出料組件和數(shù)個不良品出料組件。本發(fā)明可對電性測試之后的集成芯片進(jìn)行分類，同時在可循環(huán)治具進(jìn)行循環(huán)。