缺陷檢測方法、裝置、模型構(gòu)造方法和計(jì)算機(jī)設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011575924.6 申請日 -
公開（公告）號 CN112598657A 公開（公告）日 2021-04-02
申請公布號 CN112598657A 申請公布日 2021-04-02
分類號 G06T7/00(2017.01)I;G06K9/62(2006.01)I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 何良雨;崔健;劉彤 申請（專利權(quán)）人 鋒睿領(lǐng)創(chuàng)（珠海）科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 梁韜
地址 519000廣東省珠海市橫琴新區(qū)環(huán)島東路1889號創(chuàng)意谷18棟110室-534(集中辦公區(qū))
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實(shí)施例公開了缺陷檢測方法、裝置、模型構(gòu)造方法和計(jì)算機(jī)設(shè)備，該方法包括：獲取待檢測圖像的標(biāo)準(zhǔn)特征圖；利用預(yù)先訓(xùn)練達(dá)標(biāo)的缺陷檢測模型的第i個(gè)自適應(yīng)特征增強(qiáng)層對第i?1特征增強(qiáng)圖進(jìn)行自適應(yīng)特征增強(qiáng)以獲取第i特征增強(qiáng)圖，在i＝1時(shí)，第0特征增強(qiáng)圖為所述標(biāo)準(zhǔn)特征圖，1≤i≤N；根據(jù)第N特征增強(qiáng)圖檢測所述待檢測圖像的真實(shí)缺陷位置。本發(fā)明利用新的、輕量級的缺陷檢測模型可以在硬件資源和計(jì)算資源有限的嵌入式系統(tǒng)上實(shí)現(xiàn)對產(chǎn)品表面的缺陷檢測，有效降低硬件資源和計(jì)算資源的使用成本。??