基于光彈性的缺陷檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110170546.1 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN112802003A | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-05-14 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112802003A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-05-14 |
| 分類號(hào) | G06T7/00;G06K9/62;G01L1/24 | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 何良雨;劉彤;崔健 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 鋒睿領(lǐng)創(chuàng)（珠海）科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 深圳眾鼎專利商標(biāo)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 姚章國(guó) |
| 地址 | 519000 廣東省珠海市橫琴新區(qū)環(huán)島東路1889號(hào)創(chuàng)意谷18棟110室-534（集中辦公區(qū)） | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種基于光彈性的缺陷檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)，所述方法包括：采用初始偏振光入射待檢測(cè)材料，并檢測(cè)初始偏振光經(jīng)過(guò)待檢測(cè)材料雙折射產(chǎn)生的橢圓偏振光的偏振信息，基于偏振信息確定光彈性應(yīng)力值，并根據(jù)光彈性應(yīng)力值生成應(yīng)力分布圖像，通過(guò)深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)，對(duì)應(yīng)力分布圖像進(jìn)行特征提取識(shí)別，得到缺陷特征信息，采用本發(fā)明可以提高缺陷檢測(cè)的靈敏度和準(zhǔn)確率。 |
