基于深度學(xué)習(xí)的布局后布線違例預(yù)測方法及可讀存儲介質(zhì)
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202011437109.3 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN112233115B | 公開（公告）日 | 2021-05-07 |
| 申請公布號 | CN112233115B | 申請公布日 | 2021-05-07 |
| 分類號 | G06T7/00(2017.01)I | 分類 | - |
| 發(fā)明人 | 樊沁春;張曦;李楠 | 申請（專利權(quán)）人 | 西安國微半導(dǎo)體有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 西安嘉思特知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 閆家偉 |
| 地址 | 710000陜西省西安市高新區(qū)丈八街辦科技二路72號西安軟件園零壹廣場10901室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于深度學(xué)習(xí)的布局后布線違例預(yù)測方法及可讀存儲介質(zhì)，包括：按照預(yù)設(shè)窗口對第一版圖信息進(jìn)行分割，以得到每個預(yù)設(shè)窗口對應(yīng)的第一特征信息；根據(jù)第一特征信息得到每個第一特征信息對應(yīng)的第一特征圖像；根據(jù)同一預(yù)設(shè)窗口對應(yīng)的所有第一特征圖像得到第一五維張量圖像；根據(jù)預(yù)設(shè)窗口得到對應(yīng)的第一設(shè)計規(guī)則違反圖像；得到訓(xùn)練完的第一網(wǎng)絡(luò)模型；基于訓(xùn)練完的第一網(wǎng)絡(luò)模型，得到第一訓(xùn)練模型；得到第二訓(xùn)練模型；得到最終訓(xùn)練模型；將待預(yù)測數(shù)據(jù)輸入至最終訓(xùn)練模型得到預(yù)測結(jié)果。本發(fā)明在設(shè)計規(guī)則違反非常多的情況下可以及時的調(diào)整布局，可以指導(dǎo)布局優(yōu)化，減少布線后的設(shè)計規(guī)則違反，優(yōu)化布局布線流程。?? |
