基于與門反相器圖的網(wǎng)表級電路面積優(yōu)化方法及存儲介質(zhì)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202011475649.0 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112733474A | 公開(公告)日 | 2021-04-30 |
申請公布號 | CN112733474A | 申請公布日 | 2021-04-30 |
分類號 | G06F30/323 | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 屈展 | 申請(專利權(quán))人 | 西安國微半導(dǎo)體有限公司 |
代理機構(gòu) | 西安嘉思特知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 李園園 |
地址 | 710000 陜西省西安市高新區(qū)丈八街辦科技二路72號西安軟件園零壹廣場10901室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種基于與門反相器圖的網(wǎng)表級電路面積優(yōu)化方法及存儲介質(zhì),優(yōu)化方法包括:步驟1、獲取第一網(wǎng)表級電路文件;步驟2、根據(jù)第一網(wǎng)表級電路文件按照預(yù)設(shè)順序得到若干第一節(jié)點和各個第一節(jié)點之間的連接關(guān)系;步驟3、基于預(yù)設(shè)順序?qū)⒌谝还?jié)點對應(yīng)創(chuàng)建為與門/反相器圖的第二節(jié)點,且當(dāng)?shù)诙?jié)點存在局部子結(jié)構(gòu)時,利用散列查找方法在散列表中查找局部子結(jié)構(gòu)的同構(gòu)結(jié)構(gòu),以得到第二節(jié)點的創(chuàng)建結(jié)果;步驟4、基于預(yù)設(shè)順序,按照步驟3的方法處理下一個第一節(jié)點,直至處理完成所有第一節(jié)點,得到最終的與門/反相器圖。本發(fā)明的優(yōu)化方法能夠去除冗余的電路結(jié)構(gòu),從而達到減少電路結(jié)構(gòu)冗余,達到電路結(jié)構(gòu)面積減小的目的,最終使得內(nèi)存減少。 |
