一種準直虛像視景系統(tǒng)幾何變形測量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110854258.8 申請日 -
公開（公告）號 CN114119380A 公開（公告）日 2022-03-01
申請公布號 CN114119380A 申請公布日 2022-03-01
分類號 G06T5/00（2006.01）I;G06T7/70（2017.01）I;H04N5/217（2011.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 丁永暉;廖恒宇;湯勇;王林 申請（專利權(quán)）人 上海華模科技有限公司
代理機構(gòu) 上海匯齊專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 郭丹丹
地址 200000上海市浦東新區(qū)祝橋鎮(zhèn)祝潘路68號1層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種準直虛像視景系統(tǒng)幾何變形測量方法，包括以下測量步驟：S1、建立5°×5°標準點陣，通過在左右眼點架設(shè)經(jīng)緯儀，并根據(jù)設(shè)計眼點生成5°×5°標準點陣；S2、建立虛像點陣，通過在視景系統(tǒng)中以標準點陣原點為基準，并生成5°間隔的虛像點陣；S3、采集虛像點陣數(shù)據(jù)；S4、處理測量數(shù)據(jù)。本發(fā)明通過設(shè)計規(guī)范化的準直虛像視景系統(tǒng)幾何變形測量方法，能夠快速、高效形成對比數(shù)據(jù)，便于模擬器麥拉膜安裝調(diào)試、投影儀融合校正，通過設(shè)計快速高效、且具有標準化特征的虛像顯示系統(tǒng)校正、調(diào)試方法，易于推廣，可有效提高準直虛像顯示質(zhì)量。