一種測試組件及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022366287.3 申請日 -
公開（公告）號 CN214375114U 公開（公告）日 2021-10-08
申請公布號 CN214375114U 申請公布日 2021-10-08
分類號 G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陸平 申請（專利權(quán)）人 深南電路股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市威世博知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 鐘子敏
地址 518117廣東省深圳市龍崗區(qū)坪地街道鹽龍大道1639號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種測試組件及裝置，其中，該測試組件包括矩陣開關(guān)和測試座，所述矩陣開關(guān)包括依序連接的總線端口、多路開關(guān)和擴(kuò)展端口，所述總線端口用于連接測試儀器，所述擴(kuò)展端口的數(shù)量大于所述總線端口的數(shù)量；所述測試座具有用于與待測器件的測試引腳對應(yīng)連接的電極，以及與所述電極對應(yīng)連接的測試端口，所述測試端口與所述擴(kuò)展端口一一對應(yīng)連接；所述測試儀器能夠通過所述矩陣開關(guān)切換連接到所述待測器件的不同所述測試引腳。本申請能大幅提高器件電性能測設(shè)的測試效率、測試精度和測試一致性。