浮標(biāo)(剖面探測)
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201630343862.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN303967487S | 公開(公告)日 | 2016-12-14 |
申請公布號 | CN303967487S | 申請公布日 | 2016-12-14 |
分類號 | 10-06(10) | 分類 | - |
發(fā)明人 | 徐興洲;孫偉志;滿令斌;曹雪峰;馬國棟 | 申請(專利權(quán))人 | 青島海山海洋裝備有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京和信華成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 胡劍輝 |
地址 | 266109 山東省青島市高新區(qū)松園路17號A4樓301室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 1.本外觀設(shè)計產(chǎn)品的名稱:浮標(biāo)(剖面探測)。2.本外觀設(shè)計產(chǎn)品的用途:本外觀設(shè)計產(chǎn)品用于測量,存儲,傳輸水文數(shù)據(jù)。3.本外觀設(shè)計產(chǎn)品的設(shè)計要點:在于浮標(biāo)的整體形狀。4.最能表明本外觀設(shè)計設(shè)計要點的圖片或照片:立體圖1。5.省略視圖:無。6.請求保護的外觀設(shè)計包含色彩。 |
