PCIe測試治具及PCIe測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110428301.4 申請日 -
公開（公告）號 CN113281583A 公開（公告）日 2021-08-20
申請公布號 CN113281583A 申請公布日 2021-08-20
分類號 G01R31/00（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 余守軍 申請（專利權(quán)）人 深圳市精泰達(dá)科技有限公司
代理機構(gòu) 北京維正專利代理有限公司 代理人 吳珊
地址 518000廣東省深圳市龍華區(qū)福城街道茜坑社區(qū)觀瀾大道19號9棟101、201、301
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及PCIe測試治具及PCIe測試方法，PCIe測試治具，包括底座，底座內(nèi)設(shè)有信號端子和電阻端子，信號端子用于與PCLe端口電性連接，電阻端子用于與50歐姆的電阻電性連接；底座內(nèi)設(shè)有切換機構(gòu)，切換機構(gòu)連接于信號端子和電阻端子之間；底座頂面開設(shè)有通孔。PCIe測試方法，包括：將從PCLe接口引出的時鐘clock和數(shù)據(jù)data分別與對應(yīng)的PCLe測試治具電性連接；使用示波器，將示波器的ch1、ch2、ch3和ch4分別插入對應(yīng)PCLe測試治具上的通孔，依次對PCLe接口的全部通道進行測試。本申請具有提高測試效率的效果。