一種霍爾芯片老化測試裝置及測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010581126.8 申請日 -
公開（公告）號 CN111665433A 公開（公告）日 2020-09-15
申請公布號 CN111665433A 申請公布日 2020-09-15
分類號 G01R31/28(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張文偉;宋瑞潮 申請（專利權(quán)）人 西安中科阿爾法電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 西安弘理專利事務(wù)所 代理人 西安中科阿爾法電子科技有限公司
地址 710100陜西省西安市長安區(qū)上林苑一路15號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種霍爾芯片老化測試裝置，包括底座，底座上固定有一個或多個老化測試體；老化測試體包括同軸設(shè)置且可拆卸的第一線圈架和第二線圈架，第一線圈架上纏繞有第一線圈，第二線圈架中纏繞有第二線圈，第一線圈與第二線圈的引線焊接成為一條線纏繞的線圈，第一線圈與第二線圈的繞向相同，第一線圈架和第二線圈架之間放置有PCB引腳放大板；每個老化測試體的線圈均與一根集成總線連接，每個老化測試體的PCB引腳放大板上的放大端均通過另一根集成總線引出；本發(fā)明還公開一種霍爾芯片老化測試方法。本發(fā)明解決了現(xiàn)有技術(shù)中存在的老化測試難以批量實現(xiàn)的問題。??