一種孔檢測光學系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110700248.9 申請日 -
公開（公告）號 CN113483692A 公開（公告）日 2021-10-08
申請公布號 CN113483692A 申請公布日 2021-10-08
分類號 G01B11/22（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 趙效楠;彭思龍;汪雪林;顧慶毅;郭曉峰;杜向麗;陶國鋒;袁夢霞 申請（專利權）人 蘇州中科全象智能科技有限公司
代理機構 北京精金石知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 劉俊玲
地址 215000江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園區(qū)金雞湖大道88號人工智能產(chǎn)業(yè)園E1-002單元
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種孔檢測光學系統(tǒng)，涉及光學儀器技術領域，包括：相機、光源、沙姆鏡頭；相機與光源為共聚焦設計；光源的出射光斜向照射于深孔的孔壁；孔壁的反射光通過沙姆鏡頭進入相機，并在光電傳感器上聚焦成像；孔壁至相機的反射光路滿足沙姆定律；本發(fā)明優(yōu)點在于，采用光源和相機共聚焦設計，同時和探測目標（深孔）成物像共軛關系，避免使用復雜的照明設備打光，從而減小系統(tǒng)成本和體積；結合沙姆鏡頭及光路滿足沙姆定律，具備大景深傾斜目標成像功能，可以高分辨率下無死角檢測深孔整個深度范圍。