一種孔檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110700248.9 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113483692A 公開（公告）日 2021-10-08
申請(qǐng)公布號(hào) CN113483692A 申請(qǐng)公布日 2021-10-08
分類號(hào) G01B11/22（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 趙效楠;彭思龍;汪雪林;顧慶毅;郭曉峰;杜向麗;陶國鋒;袁夢(mèng)霞 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 蘇州中科全象智能科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京精金石知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 劉俊玲
地址 215000江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園區(qū)金雞湖大道88號(hào)人工智能產(chǎn)業(yè)園E1-002單元
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種孔檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)，涉及光學(xué)儀器技術(shù)領(lǐng)域，包括：相機(jī)、光源、沙姆鏡頭；相機(jī)與光源為共聚焦設(shè)計(jì)；光源的出射光斜向照射于深孔的孔壁；孔壁的反射光通過沙姆鏡頭進(jìn)入相機(jī)，并在光電傳感器上聚焦成像；孔壁至相機(jī)的反射光路滿足沙姆定律；本發(fā)明優(yōu)點(diǎn)在于，采用光源和相機(jī)共聚焦設(shè)計(jì)，同時(shí)和探測(cè)目標(biāo)（深孔）成物像共軛關(guān)系，避免使用復(fù)雜的照明設(shè)備打光，從而減小系統(tǒng)成本和體積；結(jié)合沙姆鏡頭及光路滿足沙姆定律，具備大景深傾斜目標(biāo)成像功能，可以高分辨率下無死角檢測(cè)深孔整個(gè)深度范圍。