一種芯片測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201920584377.4 申請日 -
公開（公告）號 CN210465602U 公開（公告）日 2020-05-05
申請公布號 CN210465602U 申請公布日 2020-05-05
分類號 G01R31/28;G01R1/04;G01R19/25;G05F1/46;G05B19/042 分類 測量；測試;
發(fā)明人 郭觀水;劉志赟 申請（專利權(quán)）人 深圳市致宸信息科技有限公司
代理機構(gòu) 深圳市華盛智薈知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 深圳市致宸信息科技有限公司
地址 518000 廣東省深圳市南山區(qū)粵海街道科技南八路2號豪威科技大廈2101室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種芯片測試裝置，該芯片測試裝置包括測試基板和測試座，所述測試基板包括供電模塊、電壓檢測模塊和電壓管理模塊，所述測試座上可放置待測芯片；所述芯片測試裝置中的供電模塊能為所述待測芯片提供各種類型、大小的電壓，使所述待測芯片能在所述芯片測試裝置中進行多方位測試；另外，在待測芯片的測試過程，所述電壓檢測模塊能檢測所述待測芯片兩端的實時電壓，所述供電模塊能基于所述實時電壓和所述電壓管理模塊對待測芯片兩端的供電電壓進行實時調(diào)節(jié)，以使所述待測芯片兩端的電壓保持恒定，保證了待測芯片在所述芯片測試裝置的測試效果。