顆粒體系多物理場觀測實驗平臺

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022575055.9 申請日 -
公開（公告）號 CN214277798U 公開（公告）日 2021-09-24
申請公布號 CN214277798U 申請公布日 2021-09-24
分類號 G01N15/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 遲福東;王頔;馬剛;曹學興;周偉;梁倫勛;常曉林;譚彬 申請（專利權(quán)）人 華能瀾滄江水電股份有限公司
代理機構(gòu) 武漢科皓知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 俞琳娟
地址 650214云南省昆明市官渡區(qū)世紀城中路1號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供了一種顆粒體系多物理場觀測實驗平臺，能夠?qū)崿F(xiàn)復雜應(yīng)力、應(yīng)變路徑下的顆粒接觸力多物理場測量，它包括：兩塊加載板與兩塊固定板，多個銷釘連接件，和透明底板；動力加載模塊；紅外測距模塊，設(shè)置在裝樣模塊上，用于監(jiān)測加載板的移動距離，進而獲取顆粒試樣加載后的應(yīng)變狀態(tài)；壓力傳感模塊，設(shè)置在裝樣模塊上、與動力加載模塊相對應(yīng)的位置處，用于監(jiān)測加載板壓力；陣列攝像模塊，設(shè)置在裝樣模塊上方；光源模塊，設(shè)置在裝樣模塊下方，提供光源；檢偏模塊，包括：可拆卸地設(shè)置在裝樣模塊和光源模塊之間的第一檢偏鏡，和可拆卸地設(shè)置在陣列攝像模塊和裝樣模塊之間的第二檢偏鏡；以及聲發(fā)射監(jiān)測模塊，可拆卸地設(shè)置在裝樣模塊上。