華晟數(shù)據(jù)
商標(biāo)信息0
專利信息15
序號 | 專利名稱 | 專利類型 | 申請?zhí)?/th> | 公開(公告)號 | 公布日期 |
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1 | 一種自動化測試邏輯設(shè)備接口的測試方法 | 發(fā)明專利 | CN201911110550.8 | CN110825647A | 2020-02-21 |
2 | 降低對存儲器接口性能影響的閃存錯誤檢測方法及裝置 | 發(fā)明專利 | CN201510017224.8 | CN104615503B | 2018-10-30 |
3 | 一種閃存錯誤檢測方法及裝置 | 發(fā)明專利 | CN201510017290.5 | CN104572336B | 2018-01-26 |
4 | 一種動態(tài)調(diào)整的閃存錯誤檢測方法及裝置 | 發(fā)明專利 | CN201510018022.5 | CN104658610B | 2017-10-27 |
5 | 一種固態(tài)硬盤及其控制裝置、系統(tǒng)、方法 | 發(fā)明專利 | CN201310022799.X | CN103942005B | 2017-03-08 |
6 | 非易失性存儲器的銷毀裝置 | 發(fā)明專利 | CN201410621484.1 | CN104361904B | 2017-02-22 |
7 | 一種提高基于NAND的固態(tài)存儲器數(shù)據(jù)保持時間的方法 | 發(fā)明專利 | CN201210489537.X | CN103839578B | 2017-02-08 |
8 | 一種動態(tài)調(diào)整的閃存錯誤檢測方法及裝置 | 發(fā)明專利 | CN201510018022.5 | CN104658610A | 2015-05-27 |
9 | 降低對存儲器接口性能影響的閃存錯誤檢測方法及裝置 | 發(fā)明專利 | CN201510017224.8 | CN104615503A | 2015-05-13 |
10 | 一種閃存錯誤檢測方法及裝置 | 發(fā)明專利 | CN201510017290.5 | CN104572336A | 2015-04-29 |
軟件著作權(quán)1
序號 | 軟件名稱 | 軟件簡稱 | 版本號 | 登記號 | 分類號 | 首次發(fā)表日期 | 登記批準(zhǔn)日期 |
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1 | 固態(tài)硬盤控制芯器內(nèi)部的軟件 | - | V1.0 | 2018SR972926 | 40000-4000 | 2016-12-10 | 2018-12-04 |
作品著作權(quán)0
網(wǎng)站備案1
序號 | 網(wǎng)站名 | 網(wǎng)址 | 備案號 | 主辦單位性質(zhì) | 審核日期 |
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1 | 廣東華晟數(shù)據(jù)固態(tài)存儲有限公司 | www.vollsun.com | 粵ICP備17024843號 | 企業(yè) | 2019-09-17 |
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