長光
商標(biāo)信息6
序號 | 商標(biāo)名稱 | 國際分類 | 注冊號 | 狀態(tài) | 申請日期 | 操作 |
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1 | 圖形 | - | 51195500 | 商標(biāo)已注冊 | 2020-11-11 | 查看 |
2 | 長光集團(tuán) | - | 51184164 | 商標(biāo)已注冊 | 2020-11-11 | 查看 |
3 | CHANGGUANG GROUP | - | 51177960 | 駁回復(fù)審中 | 2020-11-11 | 查看 |
4 | 圖形 | - | 51162464 | 商標(biāo)已注冊 | 2020-11-10 | 查看 |
5 | 長光集團(tuán) | - | 51151094 | 商標(biāo)無效 | 2020-11-10 | 查看 |
6 | CHANGGUANG GROUP | - | 51128634 | 駁回復(fù)審中 | 2020-11-10 | 查看 |
專利信息108
序號 | 專利名稱 | 專利類型 | 申請?zhí)?/th> | 公開(公告)號 | 公布日期 |
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1 | 一種空間相機(jī)電子學(xué)仿真測試系統(tǒng) | 發(fā)明專利 | CN201711486873.8 | CN108271018B | 2020-07-03 |
2 | 一種光學(xué)檢測系統(tǒng) | 發(fā)明專利 | CN201711455995.0 | CN108172527B | 2020-05-19 |
3 | 一種基于層次分析的軟件質(zhì)量評估方法及系統(tǒng) | 發(fā)明專利 | CN201711114374.6 | CN107766254B | 2020-05-08 |
4 | 焦距測量和焦面位置校準(zhǔn)的裝置、系統(tǒng)及方法 | 發(fā)明專利 | CN201711465514.4 | CN108120989B | 2020-04-10 |
5 | 一種同軸度誤差測量方法及測量系統(tǒng) | 發(fā)明專利 | CN201711461191.1 | CN108168499B | 2020-02-07 |
6 | 一種圓柱度誤差測量方法及測量系統(tǒng) | 發(fā)明專利 | CN201711465497.4 | CN108168457B | 2020-02-07 |
7 | 實(shí)現(xiàn)超大口徑平面鏡面形檢測的裝置 | 發(fā)明專利 | CN201710729204.2 | CN107462185B | 2019-10-01 |
8 | 一種二維電調(diào)鏡裝置 | 發(fā)明專利 | CN201611232483.3 | CN106773022B | 2019-04-16 |
9 | 基于視覺注意機(jī)制和信息熵的遙感圖像海面艦船檢測方法 | 發(fā)明專利 | CN201710787433.X | CN109427055A | 2019-03-05 |
10 | 一種空間相機(jī)電子學(xué)仿真測試系統(tǒng) | 發(fā)明專利 | CN201711486873.8 | CN108271018A | 2018-07-10 |
軟件著作權(quán)0
作品著作權(quán)0
網(wǎng)站備案2
序號 | 網(wǎng)站名 | 網(wǎng)址 | 備案號 | 主辦單位性質(zhì) | 審核日期 |
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1 | - | www.ciomp-cggc.cn | 吉ICP備17001118號 | 企業(yè) | 2020-12-30 |
2 | - | www.ciomp-cggc.com | 吉ICP備17001118號 | 企業(yè) | 2020-12-23 |
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