澤爾尼
上海澤爾尼儀器有限公司
注銷商標信息2
專利信息3
序號 | 專利名稱 | 專利類型 | 申請?zhí)?/th> | 公開(公告)號 | 公布日期 |
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1 | 集成電路工藝檢測設(shè)備(Xi-Line 500) | 外觀專利 | CN200930099015.8 | CN301139091D | 2010-02-17 |
2 | 集成電路工藝檢測設(shè)備(Xi-Line 530) | 外觀專利 | CN200930099014.3 | CN301139090D | 2010-02-17 |
3 | 集成電路測量設(shè)備(Xi-Line 200型) | 外觀專利 | CN200630195931.8 | CN300732351D | 2008-01-16 |
軟件著作權(quán)1
序號 | 軟件名稱 | 軟件簡稱 | 版本號 | 登記號 | 分類號 | 首次發(fā)表日期 | 登記批準日期 |
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1 | Xi-Sys集成電路尺寸測量及缺陷分析軟件 | - | 1.0.0 | 2009SR048543 | 61000-4000 | 2005-08-15 | 2009-10-23 |
作品著作權(quán)0
網(wǎng)站備案0
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