鋮昌
商標信息2
專利信息43
序號 | 專利名稱 | 專利類型 | 申請?zhí)?/th> | 公開(公告)號 | 公布日期 |
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1 | 二維點陣式多波束相控陣及其設計方法 | 發(fā)明專利 | CN202111285691.0 | CN113725717B | 2022-03-11 |
2 | 毫米波寬帶功率校準修正方法及系統(tǒng)、存儲介質及終端 | 發(fā)明專利 | CN202111156482.6 | CN113589211B | 2022-01-14 |
3 | 二維點陣式多波束相控陣及其設計方法 | 發(fā)明專利 | CN202111285691.0 | CN113725717A | 2021-11-30 |
4 | 毫米波寬帶功率校準修正方法及系統(tǒng)、存儲介質及終端 | 發(fā)明專利 | CN202111156482.6 | CN113589211A | 2021-11-02 |
5 | 射頻微波探針的S參數(shù)提取方法及系統(tǒng)、存儲介質及終端 | 發(fā)明專利 | CN202110628906.8 | CN113076713B | 2021-10-15 |
6 | 一種低噪放芯片噪聲系數(shù)自動化在片測試系統(tǒng) | 發(fā)明專利 | CN201910715479.X | CN110470973B | 2021-09-14 |
7 | 一種基于十六項誤差模型的矢量網(wǎng)絡分析儀校準方法 | 發(fā)明專利 | CN202110467666.8 | CN113359078A | 2021-09-07 |
8 | 一種射頻微波大功率器件測試系統(tǒng)及測試方法 | 發(fā)明專利 | CN202110287386.9 | CN113092976A | 2021-07-09 |
9 | 射頻微波探針的S參數(shù)提取方法及系統(tǒng)、存儲介質及終端 | 發(fā)明專利 | CN202110628906.8 | CN113076713A | 2021-07-06 |
10 | 半導體封裝結構及其制備方法 | 發(fā)明專利 | CN202110284566.1 | CN112687656B | 2021-06-11 |
軟件著作權12
序號 | 軟件名稱 | 軟件簡稱 | 版本號 | 登記號 | 分類號 | 首次發(fā)表日期 | 登記批準日期 |
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1 | 毫米波脈沖功率放大器芯片自動化在片測試軟件 | - | V1.0 | 2019SR1116002 | 30100-4000 | - | 2019-11-04 |
2 | 低噪聲放大器芯片自動化在片測試軟件 | - | V1.0 | 2019SR1064433 | 30100-4000 | - | 2019-10-21 |
3 | 對標數(shù)據(jù)管理系統(tǒng) | 對標系統(tǒng) | 1.2.5 | 2018SR698848 | 30106-4000 | - | 2018-08-30 |
4 | 微波毫米波芯片可靠性測試數(shù)據(jù)分析系統(tǒng) | 可靠性數(shù)據(jù)系統(tǒng) | V1.0 | 2018SR697727 | 30200-4000 | 2018-04-24 | 2018-08-30 |
5 | 探針臺設備管理系統(tǒng) | 探針臺管理系統(tǒng) | 1.1.0 | 2018SR688584 | 30200-4000 | - | 2018-08-28 |
6 | 進銷存管理系統(tǒng) | - | 1.2.0 | 2018SR073668 | 30106-6200 | - | 2018-01-30 |
7 | 芯片生產測試管理系統(tǒng) | 生產系統(tǒng) | 1.1.26 | 2018SR020888 | 30106-4000 | - | 2018-01-09 |
8 | MMIC一體化自動測試軟件 | MMIC自動測試軟件 | 2.0 | 2018SR020854 | 30208-4000 | - | 2018-01-09 |
9 | 芯片數(shù)據(jù)查詢分析系統(tǒng) | 芯片查詢系統(tǒng) | - | 2017SR555764 | 30200-4000 | - | 2017-09-29 |
10 | 鋮昌SPI控制芯片自動化測試系統(tǒng)軟件 | 鋮昌SPI芯片測試系統(tǒng)軟件 | V1.0 | 2014SR124301 | 30200-4000 | 2014-04-15 | 2014-08-20 |
作品著作權0
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