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    • 知常光電

    合肥知常光電科技有限公司

    存續(xù)
    • 地址：安徽省合肥市高新區(qū)望江西路800號(hào)動(dòng)漫基地C4樓2層208室
    • 簡(jiǎn)介：-
    • 商標(biāo)信息 3
    • 專(zhuān)利信息 158
    • 軟件著作權(quán) 10
    • 作品著作權(quán) 0
    • 網(wǎng)站備案 1

    商標(biāo)信息3

    序號(hào) 商標(biāo)名稱 國(guó)際分類(lèi) 注冊(cè)號(hào) 狀態(tài) 申請(qǐng)日期 操作
    1 圖形 09類(lèi)-科學(xué)儀器 63308607 等待實(shí)質(zhì)審查 2022-03-16 查看
    2 圖形 09類(lèi)-科學(xué)儀器 63301093 等待實(shí)質(zhì)審查 2022-03-16 查看
    3 知常光電 09類(lèi)-科學(xué)儀器 63293615 等待實(shí)質(zhì)審查 2022-03-16 查看

    專(zhuān)利信息158

    序號(hào) 專(zhuān)利名稱 專(zhuān)利類(lèi)型 申請(qǐng)?zhí)?/th> 公開(kāi)（公告）號(hào) 公布日期
    1 光學(xué)元件亞表面缺陷的多通道原位檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法 發(fā)明專(zhuān)利 CN201911259313.8 CN111060516B 2022-03-08
    2 一種變角度光路自動(dòng)調(diào)節(jié)裝置 實(shí)用新型 CN202121643059.4 CN215895082U 2022-02-22
    3 一種光學(xué)元件高透射率高反射率測(cè)量裝置 實(shí)用新型 CN202121645823.1 CN215893966U 2022-02-22
    4 一種雙光束相位差調(diào)制裝置 實(shí)用新型 CN202121645822.7 CN215893961U 2022-02-22
    5 一種大口徑元件夾具 實(shí)用新型 CN202121645825.0 CN215881347U 2022-02-22
    6 一種雙光束相位差調(diào)制方法及調(diào)制裝置 發(fā)明專(zhuān)利 CN202110815071.7 CN113624449A 2021-11-09
    7 一種光學(xué)元件高透射率高反射率測(cè)量裝置及測(cè)量方法 發(fā)明專(zhuān)利 CN202110815095.2 CN113483996A 2021-10-08
    8 一種大口徑元件夾具 發(fā)明專(zhuān)利 CN202110813934.7 CN113459003A 2021-10-01
    9 一種入射光線角度連續(xù)可調(diào)裝置 實(shí)用新型 CN202021925465.5 CN212483957U 2021-02-05
    10 一種熱紅外成像模組溫度控制裝置 實(shí)用新型 CN202021706269.9 CN212482714U 2021-02-05

    軟件著作權(quán)10

    序號(hào) 軟件名稱 軟件簡(jiǎn)稱 版本號(hào) 登記號(hào) 分類(lèi)號(hào) 首次發(fā)表日期 登記批準(zhǔn)日期
    1 膜片自動(dòng)清洗及檢測(cè)設(shè)備系統(tǒng) - V1.0 2021SR1849896 - - 2021-11-23
    2 光學(xué)元件表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng) - V1.0 2021SR1849889 - - 2021-11-23
    3 光學(xué)元件多模態(tài)缺陷檢測(cè)系統(tǒng) - V1.0 2021SR1805830 - 2021-09-30 2021-11-19
    4 大口徑化學(xué)膜元件剩余反射率均勻性測(cè)量系統(tǒng) - V1.0 2021SR0039081 - - 2021-02-02
    5 大口徑光學(xué)薄膜剩余反射率檢測(cè)系統(tǒng) - V1.0 2020SR1270238 - - 2020-12-25
    6 Automatic infrared imaging temperature measurement and analysis system 自動(dòng)紅外成像測(cè)溫分析系統(tǒng) V1.0 2020SR1139941 - - 2020-09-22
    7 大口徑表面疵病檢測(cè)系統(tǒng) LargerDefectScatter V1.0 2020SR1139934 - - 2020-09-22
    8 亞表面損傷共聚焦成像檢測(cè)系統(tǒng) - V1.0 2020SR1139927 - - 2020-09-22
    9 激光散射缺陷檢測(cè)系統(tǒng) - V1.0 2019SR0731933 30208-0000 - 2019-07-16
    10 大口徑熔石英弱吸收缺陷測(cè)試系統(tǒng) - V1.0 2019SR0730972 30208-0000 - 2019-07-16

    作品著作權(quán)0

    暫無(wú)信息 暫無(wú)作品著作權(quán)

    網(wǎng)站備案1

    序號(hào) 網(wǎng)站名 網(wǎng)址 備案號(hào) 主辦單位性質(zhì) 審核日期
    1 - www.zc-hightech.com 皖I(lǐng)CP備17021618號(hào) 企業(yè) 2020-07-09
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