季豐
江山季豐電子科技有限公司
存續(xù)商標信息0
專利信息10
序號 | 專利名稱 | 專利類型 | 申請?zhí)?/th> | 公開(公告)號 | 公布日期 |
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1 | 多siteATE項目的元器件絲印擺放的調整方法 | 發(fā)明專利 | CN202210103621.7 | CN114117997A | 2022-03-01 |
2 | 一種集成電路晶圓老化測試用散熱裝置 | 實用新型 | CN202121007606.X | CN215910524U | 2022-02-25 |
3 | 芯片老化測試的監(jiān)測方法、電子設備和存儲介質 | 發(fā)明專利 | CN202210051803.4 | CN114062907A | 2022-02-18 |
4 | 射頻裸晶片測試系統(tǒng)和測試方法 | 發(fā)明專利 | CN202111495073.9 | CN113903675B | 2022-02-18 |
5 | 一種環(huán)境試驗裝置 | 實用新型 | CN202121542913.8 | CN215768876U | 2022-02-08 |
6 | 射頻裸晶片測試系統(tǒng)和測試方法 | 發(fā)明專利 | CN202111495073.9 | CN113903675A | 2022-01-07 |
7 | 一種多通道擴展機箱 | 實用新型 | CN202121587335.X | CN215418877U | 2022-01-04 |
8 | 暴露絕緣體上硅器件有源區(qū)的方法、應用和失效分析方法 | 發(fā)明專利 | CN202111237524.9 | CN113675083B | 2021-12-21 |
9 | PTC鋁合金載具 | 外觀專利 | CN202130428882.2 | CN306962711S | 2021-11-26 |
10 | 暴露絕緣體上硅器件有源區(qū)的方法、應用和失效分析方法 | 發(fā)明專利 | CN202111237524.9 | CN113675083A | 2021-11-19 |
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