中導(dǎo)光電
蘇州中導(dǎo)光電設(shè)備有限公司
存續(xù)商標信息0
專利信息18
序號 | 專利名稱 | 專利類型 | 申請?zhí)?/th> | 公開(公告)號 | 公布日期 |
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1 | 太陽能硅片高速線掃描光致熒光成像檢測設(shè)備 | 發(fā)明專利 | CN201310155633.5 | CN104122266B | 2016-12-28 |
2 | 太陽能硅片及電池片缺陷檢測系統(tǒng) | 發(fā)明專利 | CN201210539390.0 | CN103871919B | 2016-06-29 |
3 | 太陽能硅片線痕高精度檢測系統(tǒng) | 發(fā)明專利 | CN201210073886.3 | CN103323466B | 2016-04-13 |
4 | 太陽能電池片、硅片背面光學(xué)檢測系統(tǒng) | 發(fā)明專利 | CN201210110136.9 | CN103376197B | 2015-08-19 |
5 | 太陽能硅片高速線掃描光致熒光成像檢測設(shè)備 | 發(fā)明專利 | CN201310155633.5 | CN104122266A | 2014-10-29 |
6 | 太陽能硅片及電池片缺陷檢測系統(tǒng) | 發(fā)明專利 | CN201210539390.0 | CN103871919A | 2014-06-18 |
7 | 太陽能多晶硅電池片表面缺陷與沾污檢測設(shè)備 | 發(fā)明專利 | CN201210110124.6 | CN103376255A | 2013-10-30 |
8 | 太陽能電池片、硅片背面光學(xué)檢測系統(tǒng) | 發(fā)明專利 | CN201210110136.9 | CN103376197A | 2013-10-30 |
9 | 太陽能硅片高速線掃描光致熒光成像檢測設(shè)備 | 實用新型 | CN201320228457.9 | CN203231972U | 2013-10-09 |
10 | 太陽能硅片線痕高精度檢測系統(tǒng) | 發(fā)明專利 | CN201210073886.3 | CN103323466A | 2013-09-25 |
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