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    • 紳克

    紳克半導(dǎo)體科技（蘇州）有限公司

    存續(xù)
    • 官網(wǎng)：-
    • 地址：蘇州市高新區(qū)大同路20號三區(qū)2號A5廠房1樓101室
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    • 專利信息 20
    • 軟件著作權(quán) 0
    • 作品著作權(quán) 0
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    商標(biāo)信息0

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    專利信息20

    序號 專利名稱 專利類型 申請?zhí)?/th> 公開（公告）號 公布日期
    1 芯片測試方法、測試機(jī)及存儲介質(zhì) 發(fā)明專利 CN202111078131.8 CN113514758B 2022-02-22
    2 延時測量電路、AC校準(zhǔn)裝置及IC測量裝置 發(fā)明專利 CN202111030951.X CN113466670B 2022-01-18
    3 一種多通道信號匯流電路、校準(zhǔn)電路及測試機(jī) 發(fā)明專利 CN202110980236.6 CN113422596B 2022-01-18
    4 芯片測試電路、測試方法及測試裝置 發(fā)明專利 CN202111115750.X CN113567841B 2022-01-11
    5 信號調(diào)整單元、信號調(diào)整模塊及測試機(jī) 發(fā)明專利 CN202111048233.5 CN113484737B 2021-12-07
    6 一種通道傳輸延時差異測量系統(tǒng)及方法 發(fā)明專利 CN202111035770.6 CN113466673B 2021-11-19
    7 測試探針、測試探針模塊及測試裝置 發(fā)明專利 CN202111031094.5 CN113466504B 2021-11-19
    8 IC測試機(jī)臺的校準(zhǔn)方法、校準(zhǔn)系統(tǒng)及IC測試裝置 發(fā)明專利 CN202111008287.9 CN113447798B 2021-11-19
    9 一種半導(dǎo)體測試機(jī)多個測試通道直流參數(shù)的校準(zhǔn)方法 發(fā)明專利 CN202110853883.0 CN113311374B 2021-11-09
    10 芯片測試電路、測試方法及測試裝置 發(fā)明專利 CN202111115750.X CN113567841A 2021-10-29

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