華興激光
商標(biāo)信息8
序號(hào) | 商標(biāo)名稱 | 國際分類 | 注冊(cè)號(hào) | 狀態(tài) | 申請(qǐng)日期 | 操作 |
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1 | 因九洱 | - | 43876094 | 商標(biāo)已注冊(cè) | 2020-01-17 | 查看 |
2 | HEPITAXY | 09類-科學(xué)儀器 | 31192473 | 商標(biāo)已注冊(cè) | 2018-05-25 | 查看 |
3 | HUAXING EPITAXY | 09類-科學(xué)儀器 | 27736092 | 商標(biāo)無效 | 2017-11-28 | 查看 |
4 | H-EPI | 09類-科學(xué)儀器 | 27736091 | 商標(biāo)已注冊(cè) | 2017-11-28 | 查看 |
5 | 圖形 | 09類-科學(xué)儀器 | 23296156 | 商標(biāo)已注冊(cè) | 2017-03-27 | 查看 |
6 | 華興 | 09類-科學(xué)儀器 | 23296155 | 商標(biāo)無效 | 2017-03-27 | 查看 |
7 | HUAXING OPTOELECTRONICS | 09類-科學(xué)儀器 | 23296154 | 商標(biāo)已注冊(cè) | 2017-03-27 | 查看 |
8 | 華興激光 HUAXING OPTO | 09類-科學(xué)儀器 | 23296153 | 商標(biāo)無效 | 2017-03-27 | 查看 |
專利信息77
序號(hào) | 專利名稱 | 專利類型 | 申請(qǐng)?zhí)?/th> | 公開(公告)號(hào) | 公布日期 |
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1 | 無制冷抗反射InP基量子點(diǎn)/量子阱耦合EML外延片的制備方法 | 發(fā)明專利 | CN202111293051.4 | CN114188823A | 2022-03-15 |
2 | 一種1342納米波長大功率微結(jié)構(gòu)DFB激光器 | 發(fā)明專利 | CN202111293304.8 | CN114188819A | 2022-03-15 |
3 | 一種硅基多結(jié)太陽電池及其漸變緩沖層 | 發(fā)明專利 | CN202111325702.3 | CN114171615A | 2022-03-11 |
4 | 一種基于GaAs襯底制備InP薄膜的方法 | 發(fā)明專利 | CN202111325697.6 | CN114134565A | 2022-03-04 |
5 | 一種外延片的快速研磨方法及裝置 | 發(fā)明專利 | CN202111251036.3 | CN113696091B | 2022-02-08 |
6 | 一種外延片的貯存方法及裝置 | 發(fā)明專利 | CN202111237224.0 | CN113682657B | 2022-02-08 |
7 | 一種外延片的存儲(chǔ)運(yùn)輸方法及裝置 | 發(fā)明專利 | CN202111237173.1 | CN113675120B | 2022-02-08 |
8 | 一種半導(dǎo)體缺陷分布成像檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法 | 發(fā)明專利 | CN202111237891.9 | CN113984787A | 2022-01-28 |
9 | 一種半導(dǎo)體缺陷對(duì)熒光壽命影響的檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法 | 發(fā)明專利 | CN202111251520.6 | CN113984727A | 2022-01-28 |
10 | 一種半導(dǎo)體深能級(jí)缺陷檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法 | 發(fā)明專利 | CN202111237939.6 | CN113970559A | 2022-01-25 |
軟件著作權(quán)13
序號(hào) | 軟件名稱 | 軟件簡稱 | 版本號(hào) | 登記號(hào) | 分類號(hào) | 首次發(fā)表日期 | 登記批準(zhǔn)日期 |
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1 | 半導(dǎo)體量子阱激光器仿真分析系統(tǒng) | QWLCAD | V3.0 | 2019SR0982338 | - | - | 2019-09-23 |
2 | 光波導(dǎo)模式多方法分析系統(tǒng) | WGCAD | V3.0 | 2019SR0982334 | - | - | 2019-09-23 |
3 | 光探測(cè)器性能測(cè)試軟件 | PINDETECTOR | V2.0 | 2018SR732164 | - | - | 2018-09-11 |
4 | 半導(dǎo)體量子阱材料能帶設(shè)計(jì)軟件 | Band Design | V 2.0 | 2018SR122025 | - | - | 2018-02-24 |
5 | 光電子有源器件仿真設(shè)計(jì)軟件 | OEDS | V 2.0 | 2018SR119068 | - | - | 2018-02-23 |
6 | 華興半導(dǎo)體激光芯片光限制因子計(jì)算軟件 | 半導(dǎo)體激光芯片光限制因子計(jì)算軟件 | V1.0 | 2017SR129143 | - | - | 2017-04-20 |
7 | 華興半導(dǎo)體激光芯片載流子動(dòng)力學(xué)過程分析軟件 | 半導(dǎo)體激光芯片載流子動(dòng)力學(xué)過程分析軟件 | V1.0 | 2017SR127214 | - | - | 2017-04-20 |
8 | 華興半導(dǎo)體光電芯片可靠性數(shù)據(jù)分析軟件 | 半導(dǎo)體光電芯片可靠性數(shù)據(jù)分析軟件 | V1.0 | 2017SR124580 | - | - | 2017-04-19 |
9 | 華興半導(dǎo)體光電薄膜制備過程前驅(qū)體流場(chǎng)分析軟件 | 半導(dǎo)體光電薄膜制備過程前驅(qū)體流場(chǎng)分析軟件 | V1.0 | 2017SR124579 | - | - | 2017-04-19 |
10 | 華興化合物半導(dǎo)體薄膜表面化學(xué)勢(shì)計(jì)算軟件 | 化合物半導(dǎo)體薄膜表面化學(xué)勢(shì)計(jì)算軟件 | V1.0 | 2017SR124527 | - | - | 2017-04-19 |
作品著作權(quán)0
網(wǎng)站備案3
序號(hào) | 網(wǎng)站名 | 網(wǎng)址 | 備案號(hào) | 主辦單位性質(zhì) | 審核日期 |
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1 | 江蘇華興激光科技有限公司 | www.hxopto.com | 蘇ICP備16044087號(hào) | 企業(yè) | 2019-03-27 |
2 | 江蘇華興激光科技有限公司 | www.hxopto.com | 蘇ICP備16044087號(hào) | 企業(yè) | 2019-03-27 |
3 | - | www.hxopto.com | 蘇ICP備16044087號(hào) | 企業(yè) | 2019-03-27 |
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