置富
武漢置富半導(dǎo)體技術(shù)有限公司
存續(xù)商標(biāo)信息1
序號(hào) | 商標(biāo)名稱 | 國(guó)際分類 | 注冊(cè)號(hào) | 狀態(tài) | 申請(qǐng)日期 | 操作 |
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1 | 憶閃 | 09類-科學(xué)儀器 | 43474776 | 商標(biāo)已注冊(cè) | 2019-12-31 | 查看 |
專利信息18
序號(hào) | 專利名稱 | 專利類型 | 申請(qǐng)?zhí)?/th> | 公開(公告)號(hào) | 公布日期 |
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1 | 一種基于操作時(shí)間或電流判斷閃存芯片可靠性的方法及測(cè)試裝置 | 發(fā)明專利 | CN201810502719.3 | CN108831517B | 2021-04-27 |
2 | 一種基于深度學(xué)習(xí)的閃存壽命預(yù)測(cè)方法、系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)可讀存取介質(zhì) | 發(fā)明專利 | CN201811545446.7 | CN109817267B | 2021-02-26 |
3 | 一種基于決策樹算法的閃存壽命預(yù)測(cè)方法及系統(tǒng) | 發(fā)明專利 | CN201811544548.7 | CN109815534B | 2020-09-04 |
4 | 一種高效可拓展閃存測(cè)試裝置 | 實(shí)用新型 | CN202020109129.7 | CN211016548U | 2020-07-14 |
5 | 一種高低溫閃存測(cè)試系統(tǒng) | 實(shí)用新型 | CN202020107790.4 | CN211016547U | 2020-07-14 |
6 | 一種基于特征量的閃存壽命預(yù)測(cè)方法、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì) | 發(fā)明專利 | CN201811545443.3 | CN109830255B | 2019-05-31 |
7 | 一種基于特征量的閃存壽命預(yù)測(cè)方法、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì) | 發(fā)明專利 | CN201811545443.3 | CN109830255A | 2019-05-31 |
8 | 一種閃存壽命預(yù)測(cè)方法、系統(tǒng)、存儲(chǔ)介質(zhì) | 發(fā)明專利 | CN201811544535.X | CN109830254A | 2019-05-31 |
9 | 一種基于深度學(xué)習(xí)的閃存壽命預(yù)測(cè)方法、系統(tǒng)及計(jì)算機(jī)可讀存取介質(zhì) | 發(fā)明專利 | CN201811545446.7 | CN109817267A | 2019-05-28 |
10 | 一種基于決策樹算法的閃存壽命預(yù)測(cè)方法及裝置 | 發(fā)明專利 | CN201811544548.7 | CN109815534A | 2019-05-28 |
軟件著作權(quán)19
序號(hào) | 軟件名稱 | 軟件簡(jiǎn)稱 | 版本號(hào) | 登記號(hào) | 分類號(hào) | 首次發(fā)表日期 | 登記批準(zhǔn)日期 |
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1 | 閃存芯片硬件交互處理系統(tǒng) | - | V1.0 | 2021SR2155761 | - | 2021-10-11 | 2021-12-26 |
2 | NAND閃存自動(dòng)化測(cè)試分類與壽命預(yù)測(cè)系統(tǒng) | - | V2.0 | 2021SR2155391 | - | 2021-09-30 | 2021-12-26 |
3 | 閃存芯片基礎(chǔ)測(cè)試報(bào)告處理系統(tǒng) | - | V1.0 | 2021SR2155390 | - | 2021-10-11 | 2021-12-26 |
4 | 閃存芯片智能測(cè)試數(shù)據(jù)處理系統(tǒng) | - | V1.0 | 2021SR2145057 | - | 2021-10-11 | 2021-12-26 |
5 | 閃存篩選方法軟件 | - | V1.0.0 | 2019SR1291926 | 10100-0000 | - | 2019-12-05 |
6 | NAND閃存P/E測(cè)試系統(tǒng) | FT-P/E | V1.0 | 2019SR1291925 | 10100-0000 | - | 2019-12-05 |
7 | NAND閃存測(cè)試平臺(tái)USB傳輸系統(tǒng) | USB傳輸系統(tǒng) | V1.0 | 2019SR1288171 | 10100-0000 | - | 2019-12-05 |
8 | 憶數(shù)NAND FLASH測(cè)試系統(tǒng)_FPGA SPI NAND FLASH控制器軟件 | RECADATA_SPI_NAND_CTRL | V1.0.0 | 2019SR1286966 | 10100-0000 | - | 2019-12-05 |
9 | 基于基因編程算法的閃存壽命預(yù)測(cè)軟件 | 閃存壽命預(yù)測(cè)軟件 | V1.0 | 2019SR1283629 | 30200-0000 | - | 2019-12-04 |
10 | NAND閃存數(shù)據(jù)保持測(cè)試分類與篩選系統(tǒng) | - | V1.0 | 2019SR1283620 | 30200-0000 | - | 2019-12-04 |
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