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    • 菲萊測(cè)試

    上海菲萊測(cè)試技術(shù)有限公司

    存續(xù)
    • 地址：中國（上海）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)祥科路111號(hào)3號(hào)樓717室
    • 簡介：-
    • 商標(biāo)信息 0
    • 專利信息 12
    • 軟件著作權(quán) 0
    • 作品著作權(quán) 0
    • 網(wǎng)站備案 2

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    專利信息12

    序號(hào) 專利名稱 專利類型 申請(qǐng)?zhí)?/th> 公開（公告）號(hào) 公布日期
    1 一種大功率光芯片檢測(cè)平臺(tái) 發(fā)明專利 CN202110634309.6 CN113092994B 2021-09-10
    2 一種大功率光芯片檢測(cè)平臺(tái) 發(fā)明專利 CN202110634309.6 CN113092994A 2021-07-09
    3 一種光芯片快速壓接檢測(cè)裝置 發(fā)明專利 CN202011414155.1 CN112197820B 2021-03-02
    4 一種用于激光器芯片集成測(cè)試的方法及系統(tǒng) 發(fā)明專利 CN202011342433.7 CN112147490B 2021-03-02
    5 一種光芯片快速壓接檢測(cè)裝置 發(fā)明專利 CN202011414155.1 CN112197820A 2021-01-08
    6 一種用于激光器芯片集成測(cè)試的方法及系統(tǒng) 發(fā)明專利 CN202011342433.7 CN112147490A 2020-12-29
    7 一種提高芯片測(cè)試溫度控制精度的方法和裝置 發(fā)明專利 CN202011212877.9 CN112098814B 2020-12-18
    8 一種提高芯片測(cè)試溫度控制精度的方法和裝置 發(fā)明專利 CN202011212877.9 CN112098814A 2020-12-18
    9 一種激光器芯片老化和LIV測(cè)試檢測(cè)方法、系統(tǒng) 發(fā)明專利 CN202011038287.9 CN111880087A 2020-11-03
    10 一種激光器COB封裝電路板 實(shí)用新型 CN202021502947.X CN211457533U 2020-09-08

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    網(wǎng)站備案2

    序號(hào) 網(wǎng)站名 網(wǎng)址 備案號(hào) 主辦單位性質(zhì) 審核日期
    1 上海菲萊測(cè)試技術(shù)有限公司 www.feedlitech.com 滬ICP備2020031225號(hào) 企業(yè) 2020-10-16
    2 上海菲萊測(cè)試技術(shù)有限公司 www.feedlitech.com 滬ICP備2020031225號(hào) 企業(yè) 2020-10-16
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