睿勵
商標信息8
序號 | 商標名稱 | 國際分類 | 注冊號 | 狀態(tài) | 申請日期 | 操作 |
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1 | 睿勵 | 42類-網(wǎng)站服務 | 9578968 | 商標已注冊 | 2011-06-10 | 查看 |
2 | 睿勵 | 37類-建筑修理 | 9578947 | 商標已注冊 | 2011-06-10 | 查看 |
3 | 睿勵 | 07類-機械設備 | 9556185 | 商標已注冊 | 2011-06-03 | 查看 |
4 | 睿勵 | 09類-科學儀器 | 9556118 | 商標已注冊 | 2011-06-03 | 查看 |
5 | RSIC | 07類-機械設備 | 5714971 | 商標已注冊 | 2006-11-10 | 查看 |
6 | RSIC | 42類-網(wǎng)站服務 | 5714970 | 商標已注冊 | 2006-11-10 | 查看 |
7 | RSIC | 09類-科學儀器 | 5714889 | 商標已注冊 | 2006-11-10 | 查看 |
8 | RSIC | 37類-建筑修理 | 5714888 | 商標已注冊 | 2006-11-10 | 查看 |
專利信息166
序號 | 專利名稱 | 專利類型 | 申請?zhí)?/th> | 公開(公告)號 | 公布日期 |
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1 | 一種用于晶圓應力測試的機械傳動系統(tǒng) | 實用新型 | CN202120255910.X | CN214313132U | 2021-09-28 |
2 | 一種用于膜厚測量光機的高精度支撐裝置及系統(tǒng) | 實用新型 | CN202120341854.1 | CN214308622U | 2021-09-28 |
3 | 用于確定半導體器件中的目標結(jié)構(gòu)的形貌參數(shù)的方法和設備 | 發(fā)明專利 | CN201710442518.4 | CN109084721B | 2021-09-21 |
4 | 光學薄膜測量設備 | 外觀專利 | CN202030827703.8 | CN306776138S | 2021-08-24 |
5 | 一種用于比對光譜的方法和裝置 | 發(fā)明專利 | CN202110377775.0 | CN113295090A | 2021-08-24 |
6 | 用于掃描顯微成像系統(tǒng)的動態(tài)準直方法 | 發(fā)明專利 | CN201810863919.1 | CN110794560B | 2021-07-06 |
7 | 用于掃描顯微成像系統(tǒng)的動態(tài)準直方法 | 發(fā)明專利 | CN201810863919.1 | CN110794560A | 2021-07-06 |
8 | 用于測量半導體器件的光學關(guān)鍵尺寸的方法和設備 | 發(fā)明專利 | CN201810911882.5 | CN110823089B | 2021-06-04 |
9 | 用于測量半導體器件的光學關(guān)鍵尺寸的方法和設備 | 發(fā)明專利 | CN201810911882.5 | CN110823089A | 2021-06-04 |
10 | 用于確定集成電路器件的尺寸的方法和設備 | 發(fā)明專利 | CN201710461390.6 | CN109148433B | 2021-06-04 |
軟件著作權(quán)0
作品著作權(quán)1
序號 | 作品名 | 作品類別 | 登記號 | 創(chuàng)作完成日期 | 首次發(fā)表日期 | 登記批準日期 |
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1 | 薄膜測量系統(tǒng)TFX3000使用手冊(TFX3000 User’s Guide) | - | 國作登字-2014-L-00120612 | - | 2013 | 2014 |
網(wǎng)站備案4
序號 | 網(wǎng)站名 | 網(wǎng)址 | 備案號 | 主辦單位性質(zhì) | 審核日期 |
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1 | 睿勵科學儀器(上海)有限公司 | www.rsicsh.com | 滬ICP備16009897號 | 企業(yè) | 2020-12-09 |
2 | 睿勵科學儀器(上海)有限公司 | www.rsicsh.com | 滬ICP備16009897號 | 企業(yè) | 2020-12-09 |
3 | 睿勵科學儀器(上海)有限公司 | www.rsicsh.com | 滬ICP備16009897號 | 企業(yè) | 2020-12-09 |
4 | 睿勵科學儀器(上海)有限公司 | www.rsicsh.com | 滬ICP備16009897號 | 企業(yè) | 2020-12-09 |
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