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    南京偉測半導體科技有限公司

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    商標信息0

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    專利信息12

    序號 專利名稱 專利類型 申請?zhí)?/th> 公開（公告）號 公布日期
    1 一種基于測試封裝Mapping自動檢查校驗方法及系統(tǒng) 發(fā)明專利 CN202210299882.0 CN114416514B 2022-06-24
    2 一種基于測試封裝Mapping自動檢查校驗方法及系統(tǒng) 發(fā)明專利 CN202210299882.0 CN114416514A 2022-06-24
    3 一種低溫探針臺清針砂紙的更換裝置和更換方法 發(fā)明專利 CN202210276338.4 CN114346873B 2022-06-24
    4 一種低溫探針臺清針砂紙的更換裝置和更換方法 發(fā)明專利 CN202210276338.4 CN114346873A 2022-06-24
    5 一種全方位檢測晶舟盒內(nèi)晶圓的裝置 發(fā)明專利 CN202210299267.X CN114400190B 2022-06-10
    6 一種晶舟盒內(nèi)晶圓位置檢測裝置 發(fā)明專利 CN202210289165.X CN114379830B 2022-06-10
    7 一種基于ATE通用CIS芯片測試系統(tǒng)及方法 發(fā)明專利 CN202210300651.7 CN114400195B 2022-06-03
    8 一種晶圓清理裝置 實用新型 CN202123285659.0 CN216539937U 2022-05-17
    9 晶圓分導設備及其工作方法 發(fā)明專利 CN202210299371.9 CN114400199A 2022-04-26
    10 一種基于ATE通用CIS芯片測試系統(tǒng)及方法 發(fā)明專利 CN202210300651.7 CN114400195A 2022-04-26

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    暫無信息 暫無軟件著作權

    作品著作權0

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