中科晶源
中科晶源微電子技術(shù)(北京)有限公司
存續(xù)商標(biāo)信息0
專(zhuān)利信息41
序號(hào) | 專(zhuān)利名稱(chēng) | 專(zhuān)利類(lèi)型 | 申請(qǐng)?zhí)?/th> | 公開(kāi)(公告)號(hào) | 公布日期 |
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1 | 掃描電子顯微鏡裝置和電子束檢測(cè)設(shè)備 | 發(fā)明專(zhuān)利 | CN202110746460.9 | CN113471042A | 2021-10-01 |
2 | 掃描電子顯微鏡裝置和電子束檢測(cè)設(shè)備 | 發(fā)明專(zhuān)利 | CN202110746459.6 | CN113471041A | 2021-10-01 |
3 | 縱向運(yùn)動(dòng)平臺(tái)及具有其的電子束檢測(cè)設(shè)備 | 發(fā)明專(zhuān)利 | CN202110571872.3 | CN113394066A | 2021-09-14 |
4 | 校準(zhǔn)OM和SEM坐標(biāo)關(guān)系的方法和裝置、設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì) | 發(fā)明專(zhuān)利 | CN202110607323.7 | CN113379692A | 2021-09-10 |
5 | 用于電子束缺陷檢測(cè)的像素尺寸校準(zhǔn)方法和裝置及設(shè)備 | 發(fā)明專(zhuān)利 | CN202110583651.8 | CN113379622A | 2021-09-10 |
6 | 掩模數(shù)據(jù)切割方法和裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì) | 發(fā)明專(zhuān)利 | CN202110607431.4 | CN113378507A | 2021-09-10 |
7 | 圖像校準(zhǔn)方法和裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì) | 發(fā)明專(zhuān)利 | CN202110607397.0 | CN113327204A | 2021-08-31 |
8 | 晶片轉(zhuǎn)移裝置、腔體裝置、晶片處理設(shè)備 | 發(fā)明專(zhuān)利 | CN202110136478.7 | CN113314447A | 2021-08-27 |
9 | 缺陷分類(lèi)器和缺陷分類(lèi)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì) | 發(fā)明專(zhuān)利 | CN202110607390.9 | CN113298166A | 2021-08-24 |
10 | 用于半導(dǎo)體器件的電子束檢測(cè)設(shè)備、和電子束檢測(cè)組件 | 發(fā)明專(zhuān)利 | CN201911179973.5 | CN110988003B | 2021-08-13 |
軟件著作權(quán)0
作品著作權(quán)0
網(wǎng)站備案2
序號(hào) | 網(wǎng)站名 | 網(wǎng)址 | 備案號(hào) | 主辦單位性質(zhì) | 審核日期 |
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1 | 中科晶源門(mén)戶(hù) | www.zkjy-jx.com | 京ICP備20018438號(hào) | 企業(yè) | 2020-05-25 |
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