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    • 澤豐

    上海澤豐半導(dǎo)體科技有限公司

    存續(xù)
    • 地址：中國（上海）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)臨港新片區(qū)翠波路201、221號1幢4層404室
    • 簡介：-
    • 商標(biāo)信息 6
    • 專利信息 71
    • 軟件著作權(quán) 0
    • 作品著作權(quán) 0
    • 網(wǎng)站備案 1

    商標(biāo)信息6

    序號 商標(biāo)名稱 國際分類 注冊號 狀態(tài) 申請日期 操作
    1 ZENFOCUS 09類-科學(xué)儀器 47273689 等待實(shí)質(zhì)審查 2020-06-15 查看
    2 ZENFOCUS 09類-科學(xué)儀器 47268776 商標(biāo)無效 2020-06-15 查看
    3 ZF ZENFOCUS 09類-科學(xué)儀器 47251028 商標(biāo)無效 2020-06-15 查看
    4 上海澤豐半導(dǎo)體科技有限公司 42類-網(wǎng)站服務(wù) 38212755 商標(biāo)無效 2019-05-15 查看
    5 ZENFOCUS 42類-網(wǎng)站服務(wù) 38204424 商標(biāo)無效 2019-05-15 查看
    6 圖形 42類-網(wǎng)站服務(wù) 38193745 商標(biāo)已注冊 2019-05-15 查看

    專利信息71

    序號 專利名稱 專利類型 申請?zhí)?/th> 公開（公告）號 公布日期
    1 一種探針卡及晶圓測試系統(tǒng) 發(fā)明專利 CN202110769474.2 CN113484561A 2021-10-08
    2 一種晶圓及成品測試共用電路板及其設(shè)計(jì)方法 發(fā)明專利 CN202110769428.2 CN113484560A 2021-10-08
    3 ATE測試板及ATE測試板的制造方法 發(fā)明專利 CN202110540231.1 CN113267659A 2021-08-17
    4 一種多層電路板的制作工藝和多層電路板 發(fā)明專利 CN202010402841.0 CN111542178B 2021-07-16
    5 一種多層電路板的制作工藝和多層電路板 發(fā)明專利 CN202010402841.0 CN111542178A 2021-07-16
    6 一種芯片測試板及制作方法 發(fā)明專利 CN202110318946.2 CN113064053A 2021-07-02
    7 基板整平治具、整平方法及探針卡 發(fā)明專利 CN202110294568.9 CN113059483A 2021-07-02
    8 一種多層有機(jī)基板及制作方法 發(fā)明專利 CN202010547064.9 CN111586995B 2021-06-25
    9 一種多層有機(jī)基板及制作方法 發(fā)明專利 CN202010547064.9 CN111586995A 2021-06-25
    10 一種探針焊接系統(tǒng)、探針焊接方法及探針卡 發(fā)明專利 CN202110266224.7 CN113001021A 2021-06-22

    軟件著作權(quán)0

    暫無信息 暫無軟件著作權(quán)

    作品著作權(quán)0

    暫無信息 暫無作品著作權(quán)

    網(wǎng)站備案1

    序號 網(wǎng)站名 網(wǎng)址 備案號 主辦單位性質(zhì) 審核日期
    1 上海澤豐半導(dǎo)體科技有限公司 www.zenfocuscorp.com 滬ICP備17046411號 企業(yè) 2017-10-22
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