尚積
無錫尚積半導(dǎo)體科技有限公司
存續(xù)商標(biāo)信息5
序號 | 商標(biāo)名稱 | 國際分類 | 注冊號 | 狀態(tài) | 申請日期 | 操作 |
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1 | DEPOMERITS | 42類-網(wǎng)站服務(wù) | 58790812 | 商標(biāo)已注冊 | 2021-08-26 | 查看 |
2 | DEPOMERITS | 35類-廣告銷售 | 58788193 | 商標(biāo)已注冊 | 2021-08-26 | 查看 |
3 | DEPOMERITS | 09類-科學(xué)儀器 | 58774832 | 商標(biāo)已注冊 | 2021-08-26 | 查看 |
4 | PLASMERITS | 09類-科學(xué)儀器 | 58631804 | 初審公告 | 2021-08-20 | 查看 |
5 | SJI-SEMI | 09類-科學(xué)儀器 | 57721112 | 商標(biāo)已注冊 | 2021-07-15 | 查看 |
專利信息13
序號 | 專利名稱 | 專利類型 | 申請?zhí)?/th> | 公開(公告)號 | 公布日期 |
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1 | 一種提高金屬膜沉積臺階覆蓋率的裝置 | 發(fā)明專利 | CN202210426440.8 | CN114645245A | 2022-06-21 |
2 | 一種晶圓的檢測方法、濺射設(shè)備及計算機可讀存儲介質(zhì) | 發(fā)明專利 | CN202210085641.6 | CN114496853A | 2022-05-13 |
3 | 一種用于晶圓的膠刻蝕方法 | 發(fā)明專利 | CN202210026734.1 | CN114496777A | 2022-05-13 |
4 | 一種提高氧化釩沉積均勻度的載片臺 | 實用新型 | CN202122806544.5 | CN216378351U | 2022-04-26 |
5 | 一種提升氧化釩刻蝕形貌的工藝方法 | 發(fā)明專利 | CN202111205628.1 | CN113948400A | 2022-01-18 |
6 | 一種解決磁控濺射生長氧化釩薄膜顆粒的工藝方法 | 發(fā)明專利 | CN202111204291.2 | CN113930741A | 2022-01-14 |
7 | 一種改善氧化釩膜厚均勻性的氣相沉積設(shè)備及其氣相沉積方法 | 發(fā)明專利 | CN202111205625.8 | CN113930735A | 2022-01-14 |
8 | 一種全遮擋屏蔽式氧化釩磁控濺射方法及其設(shè)備 | 發(fā)明專利 | CN202111205635.1 | CN113930724A | 2022-01-14 |
9 | 一種材料處理方法及設(shè)備 | 發(fā)明專利 | CN202111074839.6 | CN113862626A | 2021-12-31 |
10 | 一種物理氣相沉積源的移動裝置及物理氣相沉積裝置 | 發(fā)明專利 | CN202111080316.2 | CN113846293A | 2021-12-28 |
軟件著作權(quán)2
序號 | 軟件名稱 | 軟件簡稱 | 版本號 | 登記號 | 分類號 | 首次發(fā)表日期 | 登記批準(zhǔn)日期 |
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1 | 松尚VOx薄膜濺射氧氣控制系統(tǒng)軟件 | Vox控制系統(tǒng) | V1.0 | 2021SR1967977 | - | - | 2021-12-01 |
2 | 松尚CENTURA PVD機臺LOADLOCK腔室冷泵改分子泵真空控制系統(tǒng) | - | V1.0 | 2021SR1967976 | - | - | 2021-12-01 |
作品著作權(quán)0
網(wǎng)站備案1
序號 | 網(wǎng)站名 | 網(wǎng)址 | 備案號 | 主辦單位性質(zhì) | 審核日期 |
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1 | - | - | 蘇ICP備2022013598號 | 企業(yè) | 2022-04-12 |
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