昂坤視覺
商標信息5
專利信息40
序號 | 專利名稱 | 專利類型 | 申請?zhí)?/th> | 公開(公告)號 | 公布日期 |
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1 | 實時快速檢測晶片基底二維形貌的方法 | 發(fā)明專利 | CN201410188243.2 | CN105091777B | 2017-12-26 |
2 | 一種MOCVD反應(yīng)腔測溫方法 | 發(fā)明專利 | CN201310655549.X | CN104697666B | 2017-12-26 |
3 | 一種監(jiān)測晶片生長薄膜特性的裝置及其用途 | 發(fā)明專利 | CN201410036443.6 | CN104807495B | 2017-12-01 |
4 | 一種外延片拉曼散射光譜數(shù)據(jù)生成方法 | 發(fā)明專利 | CN201310648303.X | CN104697973B | 2017-11-21 |
5 | 自動實時快速檢測晶片基底二維形貌的裝置 | 發(fā)明專利 | CN201410188236.2 | CN105091788B | 2017-11-07 |
6 | 一種在線實時檢測外延片溫度的裝置及方法 | 發(fā)明專利 | CN201310651743.0 | CN104697645B | 2017-11-03 |
7 | 一種監(jiān)測晶片生長薄膜特性的裝置 | 發(fā)明專利 | CN201410035799.8 | CN104807754B | 2017-09-29 |
8 | 一種在線實時檢測外延片生長的裝置 | 發(fā)明專利 | CN201310651513.4 | CN104697974B | 2017-09-12 |
9 | 一種在線實時檢測外延片生長的方法 | 發(fā)明專利 | CN201310646667.4 | CN104697972B | 2017-08-29 |
10 | 一種晶片應(yīng)力測量方法 | 發(fā)明專利 | CN201310271765.4 | CN103985653B | 2017-03-08 |
軟件著作權(quán)0
作品著作權(quán)0
網(wǎng)站備案1
序號 | 網(wǎng)站名 | 網(wǎng)址 | 備案號 | 主辦單位性質(zhì) | 審核日期 |
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1 | 昂坤視覺(北京)科技有限公司 | www.akoptics.com | 京ICP備17060873號 | 企業(yè) | 2019-07-03 |
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