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    • 華嶺

    上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司

    存續(xù)
    • 地址：中國(guó)（上海）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)郭守敬路351號(hào)2號(hào)樓1樓
    • 簡(jiǎn)介：-
    • 商標(biāo)信息 12
    • 專(zhuān)利信息 217
    • 軟件著作權(quán) 0
    • 作品著作權(quán) 0
    • 網(wǎng)站備案 2

    商標(biāo)信息12

    序號(hào) 商標(biāo)名稱(chēng) 國(guó)際分類(lèi) 注冊(cè)號(hào) 狀態(tài) 申請(qǐng)日期 操作
    1 芯片測(cè)試云;SINOIC CLOUD 09類(lèi)-科學(xué)儀器 54426724 等待實(shí)質(zhì)審查 2021-03-18 查看
    2 芯片測(cè)試云 SINOIC CLOUD 42類(lèi)-網(wǎng)站服務(wù) 54412601 等待實(shí)質(zhì)審查 2021-03-18 查看
    3 圖形 09類(lèi)-科學(xué)儀器 50425970 商標(biāo)已注冊(cè) 2020-10-14 查看
    4 圖形 40類(lèi)-材料加工 50412717 商標(biāo)已注冊(cè) 2020-10-14 查看
    5 圖形 42類(lèi)-網(wǎng)站服務(wù) 50406366 商標(biāo)已注冊(cè) 2020-10-14 查看
    6 華嶺股份 SINOIC 42類(lèi)-網(wǎng)站服務(wù) 20391268 商標(biāo)已注冊(cè) 2016-06-22 查看
    7 華嶺股份 SINOIC 40類(lèi)-材料加工 20391130 商標(biāo)已注冊(cè) 2016-06-22 查看
    8 華嶺股份 SINOIC 09類(lèi)-科學(xué)儀器 20391005 商標(biāo)已注冊(cè) 2016-06-22 查看
    9 H SINOIC 42類(lèi)-網(wǎng)站服務(wù) 9170688 商標(biāo)無(wú)效 2011-03-03 查看
    10 華嶺科技 SINOIC 42類(lèi)-網(wǎng)站服務(wù) 7380885 商標(biāo)已注冊(cè) 2009-05-08 查看

    專(zhuān)利信息217

    序號(hào) 專(zhuān)利名稱(chēng) 專(zhuān)利類(lèi)型 申請(qǐng)?zhí)?/th> 公開(kāi)（公告）號(hào) 公布日期
    1 低壓線性穩(wěn)壓器壓降電壓的測(cè)試方法 發(fā)明專(zhuān)利 CN202110587357.4 CN113325226A 2021-08-31
    2 集成電路光學(xué)芯片光圈測(cè)試方法 發(fā)明專(zhuān)利 CN201910251137.7 CN110031188B 2021-08-27
    3 集成電路光學(xué)芯片光圈測(cè)試方法 發(fā)明專(zhuān)利 CN201910251137.7 CN110031188A 2021-08-27
    4 適用于檢測(cè)裝載晶圓料盒的調(diào)節(jié)裝置 發(fā)明專(zhuān)利 CN201811043998.8 CN109273384B 2021-08-06
    5 一種三維系統(tǒng)集成電路晶圓測(cè)試探針臺(tái)數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)保存方法 發(fā)明專(zhuān)利 CN201710415219.1 CN108984575B 2021-08-06
    6 一種提高測(cè)試效率的ATE測(cè)試方法 發(fā)明專(zhuān)利 CN201811607629.7 CN109884498B 2021-07-13
    7 一種提高測(cè)試效率的ATE測(cè)試模式 發(fā)明專(zhuān)利 CN201811607629.7 CN109884498A 2021-07-13
    8 多工位探針卡及晶圓測(cè)試的方法 發(fā)明專(zhuān)利 CN202110042147.7 CN112881886A 2021-06-01
    9 一種增加測(cè)試機(jī)向量深度的方法 發(fā)明專(zhuān)利 CN202110011857.3 CN112802538A 2021-05-14
    10 一種提高在測(cè)試探針臺(tái)上對(duì)探針保護(hù)效率的方法及裝置 發(fā)明專(zhuān)利 CN201811472063.1 CN109848798B 2021-05-11

    軟件著作權(quán)0

    暫無(wú)信息 暫無(wú)軟件著作權(quán)

    作品著作權(quán)0

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    網(wǎng)站備案2

    序號(hào) 網(wǎng)站名 網(wǎng)址 備案號(hào) 主辦單位性質(zhì) 審核日期
    1 上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司 www.sinoictest.com.cn 滬ICP備13005822號(hào) 企業(yè) 2021-04-19
    2 上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司 www.sinoictest.com 滬ICP備13005822號(hào) 企業(yè) 2019-09-23
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