宏力
上海宏力半導(dǎo)體制造有限公司
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專利信息2697
序號(hào) | 專利名稱 | 專利類型 | 申請(qǐng)?zhí)?/th> | 公開(kāi)(公告)號(hào) | 公布日期 |
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1 | 一種掩膜版及套刻精度測(cè)量方法 | 發(fā)明專利 | CN201210230386.6 | CN102722082B | 2019-01-18 |
2 | EEPROM存儲(chǔ)單元以及EEPROM存儲(chǔ)器 | 發(fā)明專利 | CN201210143432.9 | CN102682845B | 2018-10-16 |
3 | 存儲(chǔ)器的檢測(cè)方法 | 發(fā)明專利 | CN201310317888.7 | CN103366831B | 2018-08-21 |
4 | IP核檢測(cè)版圖、版圖設(shè)計(jì)系統(tǒng)及版圖設(shè)計(jì)方法 | 發(fā)明專利 | CN201210396347.3 | CN102880763B | 2018-07-31 |
5 | 一種半導(dǎo)體檢測(cè)系統(tǒng)和回刻深度的測(cè)量方法 | 發(fā)明專利 | CN201210366154.3 | CN102856228B | 2018-03-30 |
6 | 識(shí)別化學(xué)機(jī)械研磨設(shè)備的研磨性能的方法 | 發(fā)明專利 | CN201210030428.1 | CN102554768B | 2018-02-09 |
7 | 電阻模型的建模方法 | 發(fā)明專利 | CN201310321036.5 | CN103390086B | 2018-01-26 |
8 | 電可擦可編程只讀存儲(chǔ)器結(jié)構(gòu)以及電子設(shè)備 | 發(fā)明專利 | CN201210093908.2 | CN102623057B | 2018-01-26 |
9 | 內(nèi)置菲涅耳透鏡的圖像傳感器及其制造方法 | 發(fā)明專利 | CN201210061931.3 | CN102569327B | 2018-01-26 |
10 | 自對(duì)準(zhǔn)閃存中的浮柵結(jié)構(gòu)及其制造方法 | 發(fā)明專利 | CN201110341960.0 | CN102394243B | 2018-01-26 |
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