晶源
東方晶源微電子科技(北京)有限公司深圳分公司
存續(xù)商標(biāo)信息0
專利信息12
序號 | 專利名稱 | 專利類型 | 申請?zhí)?/th> | 公開(公告)號 | 公布日期 |
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1 | 一種用于光刻機(jī)照明系統(tǒng)的自由光瞳生成方法 | 發(fā)明專利 | CN202011406432.4 | CN112462577A | 2021-03-09 |
2 | 一種光刻膠模型的建立方法及電子設(shè)備 | 發(fā)明專利 | CN202011255892.1 | CN112364508A | 2021-02-12 |
3 | 一種負(fù)顯影光刻工藝的仿真方法、負(fù)顯影光刻膠模型、OPC模型及電子設(shè)備 | 發(fā)明專利 | CN202011306691.X | CN112363372A | 2021-02-12 |
4 | 一種雙重圖形掩模優(yōu)化結(jié)果的跨接缺陷檢測方法及電子設(shè)備 | 發(fā)明專利 | CN202011241787.2 | CN112348797A | 2021-02-09 |
5 | 一種衡量光瞳之間匹配程度的評價方法 | 發(fā)明專利 | CN202011255868.8 | CN112305874A | 2021-02-02 |
6 | 一種負(fù)顯影光刻工藝的全芯片快速仿真方法、負(fù)顯影光刻膠模型、OPC模型及電子設(shè)備 | 發(fā)明專利 | 202011153654X | CN112257270A | 2021-01-22 |
7 | 一種計算光刻投影物鏡中朗奇剪切干涉圖像的方法 | 發(fā)明專利 | CN202011148935.6 | CN112114501A | 2020-12-22 |
8 | 一種光源、偏振及掩模聯(lián)合優(yōu)化方法及電子設(shè)備 | 發(fā)明專利 | CN202010928268.7 | CN111965935A | 2020-11-20 |
9 | 一種集成電路掩模設(shè)計的優(yōu)化方法及計算機(jī)可讀的存儲介質(zhì) | 發(fā)明專利 | CN201710065850.3 | CN106777829B | 2019-04-12 |
10 | 全芯片掩模圖案生成的方法、裝置及計算機(jī)可讀介質(zhì) | 發(fā)明專利 | CN201810155893.5 | CN108490735A | 2018-09-04 |
軟件著作權(quán)0
作品著作權(quán)0
網(wǎng)站備案2
序號 | 網(wǎng)站名 | 網(wǎng)址 | 備案號 | 主辦單位性質(zhì) | 審核日期 |
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1 | 東方晶源微電子科技(北京)有限公司深圳分公司 | 113.106.165.242 | 粵ICP備2021092158號 | 企業(yè) | 2021-07-06 |
2 | 東方晶源微電子科技(北京)有限公司深圳分公司 | 113.106.165.242 | 粵ICP備2021092158號 | 企業(yè) | 2021-07-06 |
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