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    • 中科芯電

    中科芯電半導(dǎo)體科技（北京）有限公司

    存續(xù)
    • 地址：北京市大興區(qū)西紅門鎮(zhèn)金盛大街2號院
    • 簡介：-
    • 商標(biāo)信息 12
    • 專利信息 17
    • 軟件著作權(quán) 9
    • 作品著作權(quán) 0
    • 網(wǎng)站備案 2

    商標(biāo)信息12

    序號 商標(biāo)名稱 國際分類 注冊號 狀態(tài) 申請日期 操作
    1 中科芯電 ACS 01類-化學(xué)原料 31596459 商標(biāo)已注冊 2018-06-13 查看
    2 中科芯電 ACS 38類-通訊服務(wù) 31594883 等待實質(zhì)審查 2018-06-13 查看
    3 中科芯電 ACS 09類-科學(xué)儀器 31588931 商標(biāo)已注冊 2018-06-13 查看
    4 中科芯電 ACS 35類-廣告銷售 31581285 商標(biāo)無效 2018-06-13 查看
    5 中科芯電 09類-科學(xué)儀器 31124099 商標(biāo)已注冊 2018-05-23 查看
    6 ACS 01類-化學(xué)原料 31124055 商標(biāo)已注冊 2018-05-23 查看
    7 ACS 38類-通訊服務(wù) 31120965 商標(biāo)已注冊 2018-05-23 查看
    8 ACS 35類-廣告銷售 31120918 商標(biāo)無效 2018-05-23 查看
    9 中科芯電 38類-通訊服務(wù) 31117643 商標(biāo)無效 2018-05-23 查看
    10 ACS 09類-科學(xué)儀器 31116473 商標(biāo)已注冊 2018-05-23 查看

    專利信息17

    序號 專利名稱 專利類型 申請?zhí)?/th> 公開（公告）號 公布日期
    1 應(yīng)用于VCSEL結(jié)構(gòu)外延片的光致發(fā)光測試的逐層刻蝕方法及其VCSEL結(jié)構(gòu)外延片 發(fā)明專利 CN201811563848.X CN109507006B 2021-09-28
    2 一種GaAs基高電子遷移率晶體管材料及其制備方法 發(fā)明專利 CN201810660416.4 CN108565285B 2021-09-28
    3 一種用于光致發(fā)光測試的VCSEL結(jié)構(gòu)外延材料結(jié)構(gòu)及制備方法 發(fā)明專利 CN201811564308.3 CN111355118B 2021-07-20
    4 改善低摻雜濃度材料表面歐姆接觸的方法及材料 發(fā)明專利 CN201811137925.5 CN109273357B 2021-03-23
    5 一種用于光致發(fā)光測試的VCSEL結(jié)構(gòu)外延材料結(jié)構(gòu)及制備方法 發(fā)明專利 CN201811564308.3 CN111355118A 2020-06-30
    6 一種應(yīng)用于高電子遷移率晶體管的緩沖層結(jié)構(gòu)和材料結(jié)構(gòu) 實用新型 CN201921265321.9 CN210349843U 2020-04-17
    7 一種增大自旋軌道耦合的方法和自旋晶體管 發(fā)明專利 CN202010050900.2 CN110875182B 2020-03-10
    8 一種增大自旋軌道耦合的方法和晶體管 發(fā)明專利 CN202010050900.2 CN110875182A 2020-03-10
    9 一種制作InSb紅外探測器的材料結(jié)構(gòu)及其制備方法 發(fā)明專利 CN201910074399.0 CN109817754A 2019-05-28
    10 一種多霍爾測試樣品的測試夾具、測試控制器及測試方法 發(fā)明專利 CN201811586561.9 CN109696568A 2019-04-30

    軟件著作權(quán)9

    序號 軟件名稱 軟件簡稱 版本號 登記號 分類號 首次發(fā)表日期 登記批準(zhǔn)日期
    1 中科芯電晶片電阻率檢測程序系統(tǒng) - V1.0 2018SR243262 30200-0000 - 2018-04-11
    2 中科芯電晶片傳遞裝置管理系統(tǒng) - V1.0 2018SR242021 30200-0000 - 2018-04-10
    3 中科芯電晶片薄膜厚度檢測程序系統(tǒng) - V1.0 2018SR242017 30200-0000 - 2018-04-10
    4 中科芯電晶片表面缺陷檢測程序系統(tǒng) - V1.0 2018SR241804 30200-0000 - 2018-04-10
    5 中科芯電晶片清洗裝置管理系統(tǒng) - V1.0 2018SR241795 30200-0000 - 2018-04-10
    6 中科芯電晶片烘烤裝置管理系統(tǒng) - V1.0 2018SR240601 30200-0000 - 2018-04-10
    7 中科芯電晶片遷移率檢測程序系統(tǒng) - V1.0 2018SR240598 30200-0000 - 2018-04-10
    8 中科芯電晶片濃度檢測程序系統(tǒng) - V1.0 2018SR240592 30200-0000 - 2018-04-10
    9 中科芯電晶片表面顆粒度檢測程序系統(tǒng) - V1.0 2018SR240589 30200-0000 - 2018-04-10

    作品著作權(quán)0

    暫無信息 暫無作品著作權(quán)

    網(wǎng)站備案2

    序號 網(wǎng)站名 網(wǎng)址 備案號 主辦單位性質(zhì) 審核日期
    1 中科芯電半導(dǎo)體科技（北京）有限公司 www.acs-semi.com 京ICP備18020543號 企業(yè) 2021-12-29
    2 中科芯電半導(dǎo)體科技（北京）有限公司 www.acs-semi.com 京ICP備18020543號 企業(yè) 2018-04-25
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