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商標(biāo)信息2
專利信息1277
序號 | 專利名稱 | 專利類型 | 申請?zhí)?/th> | 公開(公告)號 | 公布日期 |
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1 | 濕法蝕刻機臺輔助補藥系統(tǒng)及濕法蝕刻系統(tǒng) | 發(fā)明專利 | CN202110698678.1 | CN113471105A | 2021-10-01 |
2 | 金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管及其制備方法和應(yīng)用 | 發(fā)明專利 | CN202110271209.1 | CN113054031A | 2021-06-29 |
3 | 垂直雙擴散金屬氧化物半導(dǎo)體晶體管及其制備方法和應(yīng)用 | 發(fā)明專利 | CN202110269950.4 | CN113054030A | 2021-06-29 |
4 | 金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管及其制備方法和應(yīng)用 | 發(fā)明專利 | CN202110268619.0 | CN113054029A | 2021-06-29 |
5 | 金屬氧化物半導(dǎo)體晶體管及其制備方法 | 發(fā)明專利 | CN202110270445.1 | CN113053999A | 2021-06-29 |
6 | 二極管的金屬電極、制備方法和二極管 | 發(fā)明專利 | CN201610475438.4 | CN107546120B | 2021-04-09 |
7 | 一種多晶硅柵極的制造方法及多晶硅柵極 | 發(fā)明專利 | CN201610361902.7 | CN107437500B | 2021-04-09 |
8 | 一種晶元在線監(jiān)測方法及裝置 | 發(fā)明專利 | CN201610091124.4 | CN107093568B | 2021-04-09 |
9 | 一種去除半導(dǎo)體器件制造中的多晶硅殘留的方法 | 發(fā)明專利 | 2020101655171 | CN112289676A | 2021-01-29 |
10 | 帶有ESD結(jié)構(gòu)的溝槽型半導(dǎo)體器件及其制造方法 | 發(fā)明專利 | CN201610201989.1 | CN107293486B | 2020-12-04 |
軟件著作權(quán)0
作品著作權(quán)0
網(wǎng)站備案1
序號 | 網(wǎng)站名 | 網(wǎng)址 | 備案號 | 主辦單位性質(zhì) | 審核日期 |
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1 | 深圳方正微電子有限公司 | www.founderic.com | 粵ICP備07029453號 | 企業(yè) | 2015-12-07 |
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